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Measurement of Surface Tension for Molten Silicon by the Oscillating Drop Method using Electromagnetic Levitation

Hibiya, T. und Egry, I. (1995) Measurement of Surface Tension for Molten Silicon by the Oscillating Drop Method using Electromagnetic Levitation. Metsu Bussei (Japan).

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elib-URL des Eintrags:https://elib.dlr.de/41065/
Dokumentart:Zeitschriftenbeitrag
Zusätzliche Informationen: LIDO-Berichtsjahr=1995,
Titel:Measurement of Surface Tension for Molten Silicon by the Oscillating Drop Method using Electromagnetic Levitation
Autoren:
AutorenInstitution oder E-Mail-AdresseAutoren-ORCID-iDORCID Put Code
Hibiya, T.NICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Egry, I.NICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Datum:1995
Referierte Publikation:Ja
Open Access:Nein
Gold Open Access:Nein
In SCOPUS:Nein
In ISI Web of Science:Ja
Band:9
Seitenbereich:Seiten 181-188
Verlag:Metsu Bussei (Japan)
Name der Reihe:3
Status:veröffentlicht
HGF - Forschungsbereich:NICHT SPEZIFIZIERT
HGF - Programm:keine Zuordnung
HGF - Programmthema:keine Zuordnung
DLR - Schwerpunkt:NICHT SPEZIFIZIERT
DLR - Forschungsgebiet:keine Zuordnung
DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):NICHT SPEZIFIZIERT
Standort: Köln-Porz
Institute & Einrichtungen:Institut für Materialphysik im Weltraum > Institut für Raumsimulation
Hinterlegt von: DLR-Beauftragter, elib
Hinterlegt am:02 Apr 2006
Letzte Änderung:27 Apr 2009 11:33

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