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Charakterisierung optischer Oberflächen über ihre Mikrorauheit unter Einsatz interferometrischer, taktiler und streuender Meßverfahren

Ringel, G. and Kratz, F. and Schmitt, D. R. (1996) Charakterisierung optischer Oberflächen über ihre Mikrorauheit unter Einsatz interferometrischer, taktiler und streuender Meßverfahren. DLR-Forschungsbericht. 96-03, 25 S.

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Item URL in elib:https://elib.dlr.de/29340/
Document Type:Monograph (DLR-Forschungsbericht)
Additional Information: LIDO-Berichtsjahr=1996,
Title:Charakterisierung optischer Oberflächen über ihre Mikrorauheit unter Einsatz interferometrischer, taktiler und streuender Meßverfahren
Authors:
AuthorsInstitution or Email of AuthorsAuthors ORCID iD
Ringel, G.UNSPECIFIEDUNSPECIFIED
Kratz, F.UNSPECIFIEDUNSPECIFIED
Schmitt, D. R.UNSPECIFIEDUNSPECIFIED
Date:1996
Open Access:No
Gold Open Access:No
In SCOPUS:No
In ISI Web of Science:No
Number of Pages:25
Status:Published
Keywords:Meßtechnik, Profilometrie, Mikrorauheit, Superpolitur, Resist, Lack, Planisierung, BK7
HGF - Research field:Aeronautics, Space and Transport (old)
HGF - Program:Aeronautics
HGF - Program Themes:other
DLR - Research area:Aeronautics
DLR - Program:L FT - Flugführungstechnologien
DLR - Research theme (Project):L - no assignment (old)
Location: Braunschweig
Institutes and Institutions:Institute of Flight Control
Deposited By: DLR-Beauftragter, elib
Deposited On:02 Apr 2006
Last Modified:27 Apr 2009 07:23

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