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Charakterisierung optischer Oberflächen über ihre Mikrorauheit unter Einsatz interferometrischer, taktiler und streuender Meßverfahren

Ringel, G. und Kratz, F. und Schmitt, D. R. (1996) Charakterisierung optischer Oberflächen über ihre Mikrorauheit unter Einsatz interferometrischer, taktiler und streuender Meßverfahren. DLR-Forschungsbericht. 96-03. 25 S.

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elib-URL des Eintrags:https://elib.dlr.de/29340/
Dokumentart:Berichtsreihe (DLR-Forschungsbericht)
Zusätzliche Informationen: LIDO-Berichtsjahr=1996,
Titel:Charakterisierung optischer Oberflächen über ihre Mikrorauheit unter Einsatz interferometrischer, taktiler und streuender Meßverfahren
Autoren:
AutorenInstitution oder E-Mail-AdresseAutoren-ORCID-iDORCID Put Code
Ringel, G.NICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Kratz, F.NICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Schmitt, D. R.NICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Datum:1996
Open Access:Nein
Seitenanzahl:25
Status:veröffentlicht
Stichwörter:Meßtechnik, Profilometrie, Mikrorauheit, Superpolitur, Resist, Lack, Planisierung, BK7
HGF - Forschungsbereich:Verkehr und Weltraum (alt)
HGF - Programm:Luftfahrt
HGF - Programmthema:keine Zuordnung
DLR - Schwerpunkt:Luftfahrt
DLR - Forschungsgebiet:L FT - Flugführungstechnologien
DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):L - keine Zuordnung (alt)
Standort: Braunschweig
Institute & Einrichtungen:Institut für Flugführung
Hinterlegt von: DLR-Beauftragter, elib
Hinterlegt am:02 Apr 2006
Letzte Änderung:27 Apr 2009 07:23

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