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Photoelectron spectra of finite-thickness layers

Afanas'ev, Viktor P. und Golovina, Olga Y. und Gryazev, Alexander S. und Efremenko, Dmitry und Kaplya, Pavel S. (2015) Photoelectron spectra of finite-thickness layers. Journal of Vacuum Science and Technology B, 33 (3), 03D101-1-03D101-6. American Institute of Physics (AIP). doi: 10.1116/1.4907228. ISSN 2166-2746.

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Offizielle URL: http://dx.doi.org/10.1116/1.4907228

Kurzfassung

A method of computing x-ray photoemission spectra in the wide range of energy losses and different sighting angles is presented. Photoemission spectra for layers of finite thickness are investigated. Angular and energy spectra are analyzed using the invariant imbedding principle. They are computed using small-angle approximation and the exact numerical solution of the multiple photoelectron scattering events in solids. The presented methods of x-ray photoemission spectra analysis are compared regarding their efficiencies. Comparison of the exact numerical solution to those based on straight line approximation and small-angle approximation reveals an error in straight line approximation of about 50%. Numerical solutions are compared with the experimental data and Monte-Carlo simulations.

elib-URL des Eintrags:https://elib.dlr.de/103385/
Dokumentart:Zeitschriftenbeitrag
Titel:Photoelectron spectra of finite-thickness layers
Autoren:
AutorenInstitution oder E-Mail-AdresseAutoren-ORCID-iDORCID Put Code
Afanas'ev, Viktor P.National Research University "Moscow Power Engineering Institute", RussiaNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Golovina, Olga Y.National Research University "Moscow Power Engineering Institute", RussiaNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Gryazev, Alexander S.National Research University "Moscow Power Engineering Institute", RussiaNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Efremenko, Dmitrydmitry.efremenko (at) dlr.deNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Kaplya, Pavel S.National Research University "Moscow Power Engineering Institute", RussiaNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Datum:18 Februar 2015
Erschienen in:Journal of Vacuum Science and Technology B
Referierte Publikation:Ja
Open Access:Ja
Gold Open Access:Nein
In SCOPUS:Ja
In ISI Web of Science:Ja
Band:33
DOI:10.1116/1.4907228
Seitenbereich:03D101-1-03D101-6
Herausgeber:
HerausgeberInstitution und/oder E-Mail-Adresse der HerausgeberHerausgeber-ORCID-iDORCID Put Code
Aydil, ErayUniversity of Minnesota, USANICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Verlag:American Institute of Physics (AIP)
ISSN:2166-2746
Status:veröffentlicht
Stichwörter:photo-electron spectra; XPS; electron spectroscopy; transport theory
HGF - Forschungsbereich:Luftfahrt, Raumfahrt und Verkehr
HGF - Programm:Raumfahrt
HGF - Programmthema:Erdbeobachtung
DLR - Schwerpunkt:Raumfahrt
DLR - Forschungsgebiet:R EO - Erdbeobachtung
DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):R - Vorhaben Spektrometrische Verfahren und Konzepte der Fernerkundung (alt)
Standort: Oberpfaffenhofen
Institute & Einrichtungen:Institut für Methodik der Fernerkundung > Atmosphärenprozessoren
Hinterlegt von: Efremenko, Dr Dmitry
Hinterlegt am:11 Mär 2016 12:08
Letzte Änderung:01 Dez 2021 08:34

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