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Interferometric High Precision Measurement of Surface Topography using image Analysis.

Ringel, G. und Hecker, P. und Miege, M. und Schmitt, D.R. (1995) Interferometric High Precision Measurement of Surface Topography using image Analysis. Symposium Bildverarbeitung in der industriellen Praxis, Steyer, 05.-06.09.1995.

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Dokumentart:Konferenzbeitrag (Paper)
Zusätzliche Informationen: LIDO-Berichtsjahr=1995,
Titel:Interferometric High Precision Measurement of Surface Topography using image Analysis.
Autoren:
AutorenInstitution oder E-Mail-Adresse der Autoren
Ringel, G.NICHT SPEZIFIZIERT
Hecker, P.NICHT SPEZIFIZIERT
Miege, M.NICHT SPEZIFIZIERT
Schmitt, D.R.NICHT SPEZIFIZIERT
Datum:1995
Status:veröffentlicht
Veranstaltungstitel:Symposium Bildverarbeitung in der industriellen Praxis, Steyer, 05.-06.09.1995
HGF - Forschungsbereich:NICHT SPEZIFIZIERT
HGF - Programm:keine Zuordnung
HGF - Programmthema:keine Zuordnung
DLR - Schwerpunkt:NICHT SPEZIFIZIERT
DLR - Forschungsgebiet:keine Zuordnung
DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):L -- keine Zuordnung
Standort: Braunschweig
Institute & Einrichtungen:Institut für Flugführung
Hinterlegt von: elib DLR-Beauftragter
Hinterlegt am:02 Apr 2006
Letzte Änderung:27 Apr 2009 07:21

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