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Interferometric High Precision Measurement of Surface Topography using image Analysis.

Ringel, G. und Hecker, P. und Miege, M. und Schmitt, D.R. (1995) Interferometric High Precision Measurement of Surface Topography using image Analysis. Symposium Bildverarbeitung in der industriellen Praxis, Steyer, 05.-06.09.1995.

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Dokumentart:Konferenzbeitrag (Paper)
Zusätzliche Informationen: LIDO-Berichtsjahr=1995,
Titel:Interferometric High Precision Measurement of Surface Topography using image Analysis.
Autoren:
AutorenInstitution oder E-Mail-AdresseAutoren-ORCID
Ringel, G.NICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Hecker, P.NICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Miege, M.NICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Schmitt, D.R.NICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Datum:1995
In Open Access:Nein
In SCOPUS:Nein
In ISI Web of Science:Nein
Status:veröffentlicht
Veranstaltungstitel:Symposium Bildverarbeitung in der industriellen Praxis, Steyer, 05.-06.09.1995
HGF - Forschungsbereich:NICHT SPEZIFIZIERT
HGF - Programm:keine Zuordnung
HGF - Programmthema:keine Zuordnung
DLR - Schwerpunkt:NICHT SPEZIFIZIERT
DLR - Forschungsgebiet:keine Zuordnung
DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):L - keine Zuordnung (alt)
Standort: Braunschweig
Institute & Einrichtungen:Institut für Flugführung
Hinterlegt von: DLR-Beauftragter, elib
Hinterlegt am:02 Apr 2006
Letzte Änderung:27 Apr 2009 07:21

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