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Test digitaler Schaltkreise

Eggersglüß, Stephan and Fey, Görschwin and Polian, Illia (2014) Test digitaler Schaltkreise. DE GRUYTER OLDENBOURG. ISBN 978-3-486-72014-3.

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Official URL: http://www.degruyter.com/view/product/214529;jsessionid=5E737901276478065F6038A3A24767E8?rskey=qpRc9Q&onlyResultQuery=9783486720143

Abstract

Eingebettete Systeme übernehmen zentrale Steueraufgaben im täglichen Leben. In der Energieversorgung oder im Transportwesen würde ein Ausfall der Systeme fatale Auswirkungen haben. Der Nutzer verlässt sich aber auf ein fehlerfreies Funktionieren des Systems. Die Funktionstüchtigkeit der Schaltkreise zu garantieren, ist das Ziel des Testens – und das mit geringen Kosten, da jeder Chip nach der Produktion separat getestet werden muss.

Item URL in elib:https://elib.dlr.de/93451/
Document Type:Book
Title:Test digitaler Schaltkreise
Authors:
AuthorsInstitution or Email of AuthorsAuthor's ORCID iDORCID Put Code
Eggersglüß, StephanUNSPECIFIEDUNSPECIFIEDUNSPECIFIED
Fey, GörschwinUNSPECIFIEDUNSPECIFIEDUNSPECIFIED
Polian, IlliaUNSPECIFIEDUNSPECIFIEDUNSPECIFIED
Date:2014
Refereed publication:No
Open Access:No
Gold Open Access:No
In SCOPUS:No
In ISI Web of Science:No
Publisher:DE GRUYTER OLDENBOURG
ISBN:978-3-486-72014-3
Status:Published
Keywords:Eingebettete Systeme, Schaltkreis, digital, testen
HGF - Research field:Aeronautics, Space and Transport
HGF - Program:Space
HGF - Program Themes:Space System Technology
DLR - Research area:Raumfahrt
DLR - Program:R SY - Space System Technology
DLR - Research theme (Project):R - Core Avionics (old)
Location: Bremen
Institutes and Institutions:Institute of Space Systems > Avionics Systems
Deposited By: Hoffmann, Jana Christin
Deposited On:08 Jan 2015 13:18
Last Modified:08 Jan 2015 13:18

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