Duque Biarge, Sergi und Rossi, Cristian und Fritz, Thomas (2015) Single-Pass Tomography With Alternating Bistatic TanDEM-X Data. IEEE Geoscience and Remote Sensing Letters, 12 (2), Seiten 409-413. IEEE - Institute of Electrical and Electronics Engineers. doi: 10.1109/LGRS.2014.2345191. ISSN 1545-598X.
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Dokumentart: | Zeitschriftenbeitrag | ||||||||||||||||
Titel: | Single-Pass Tomography With Alternating Bistatic TanDEM-X Data | ||||||||||||||||
Autoren: |
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Datum: | Februar 2015 | ||||||||||||||||
Erschienen in: | IEEE Geoscience and Remote Sensing Letters | ||||||||||||||||
Referierte Publikation: | Ja | ||||||||||||||||
Open Access: | Nein | ||||||||||||||||
Gold Open Access: | Nein | ||||||||||||||||
In SCOPUS: | Ja | ||||||||||||||||
In ISI Web of Science: | Ja | ||||||||||||||||
Band: | 12 | ||||||||||||||||
DOI: | 10.1109/LGRS.2014.2345191 | ||||||||||||||||
Seitenbereich: | Seiten 409-413 | ||||||||||||||||
Herausgeber: |
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Verlag: | IEEE - Institute of Electrical and Electronics Engineers | ||||||||||||||||
ISSN: | 1545-598X | ||||||||||||||||
Status: | veröffentlicht | ||||||||||||||||
Stichwörter: | Accuracy;Buildings;Image resolution;Scattering;Signal to noise ratio;Synthetic aperture radar;Tomography;Alternating bistatic (AB);SAR tomography;TanDEM-X;synthetic aperture radar (SAR) | ||||||||||||||||
HGF - Forschungsbereich: | Luftfahrt, Raumfahrt und Verkehr | ||||||||||||||||
HGF - Programm: | Raumfahrt | ||||||||||||||||
HGF - Programmthema: | Erdbeobachtung | ||||||||||||||||
DLR - Schwerpunkt: | Raumfahrt | ||||||||||||||||
DLR - Forschungsgebiet: | R EO - Erdbeobachtung | ||||||||||||||||
DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben): | R - Projekt TanDEM-X (alt) | ||||||||||||||||
Standort: | Oberpfaffenhofen | ||||||||||||||||
Institute & Einrichtungen: | Institut für Methodik der Fernerkundung > SAR-Signalverarbeitung | ||||||||||||||||
Hinterlegt von: | Duque Biarge, Sergi | ||||||||||||||||
Hinterlegt am: | 05 Dez 2014 15:46 | ||||||||||||||||
Letzte Änderung: | 31 Okt 2023 11:36 |
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