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CMOS-TDI Detector for Multi-Spectral and High-Resolution Imaging

Eckardt, Andreas und Reulke, Ralf und Jung, Melanie und Sengebusch, Karsten (2014) CMOS-TDI Detector for Multi-Spectral and High-Resolution Imaging. In: 65th International Astronautical Congress (IAC) (ISSN: 0094-5765). 65th IAC 2014, 29. Sep. - 03. Okt. 2014, Toronto, Kanada. ISSN 0094-5765.

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Kurzfassung

The Institute of Optical Sensor Systems (OS) at the Robotics and Mechatronics Center of the German Aerospace Center (DLR) has more than 30 years of experience with high-resolution imaging technology. This paper shows the institute’s scientific results of the leading-edge detector design CMOS in a TDI (Time Delay and Integration) architecture. This project includes the technological design of future high or multi-spectral resolution spaceborne instruments and the possibility of higher integration. DLR OS and the Fraunhofer Institute for Microelectronic Circuits and Systems in Duisburg were driving the technology of new detectors and the FPA design for future projects, new manufacturing accuracy and on-chip processing capability in order to keep pace with the ambitious scientific and user requirements. In combination with the engineering research, the current generation of space borne sensor systems is focussing on VIS/NIR high spectral resolution to meet the requirements on earth and planetary observation systems. The combination of large swath and high-spectral resolution with intelligent synchronization control, fast-readout ADC chains and new focal-plane concepts open the door to new remote-sensing and smart deep space instruments. The paper gives an overview over the detector development and verification program at DLR on FPA level, new control possibilities for CMOS-TDI detectors in synchronisation control mode, and key parameters like PRNU, DSNU, MTF, SNR, linearity, spectral response, quantum efficiency, flatness will be discussed in detail.

elib-URL des Eintrags:https://elib.dlr.de/91302/
Dokumentart:Konferenzbeitrag (Vortrag)
Titel:CMOS-TDI Detector for Multi-Spectral and High-Resolution Imaging
Autoren:
AutorenInstitution oder E-Mail-AdresseAutoren-ORCID-iDORCID Put Code
Eckardt, AndreasInstitut für Optische SensorsystemeNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Reulke, RalfHU-BerlinNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Jung, MelanieFraunhofer-IMSNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Sengebusch, KarstenEURECA Messtechnik GmbHNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Datum:Oktober 2014
Erschienen in:65th International Astronautical Congress (IAC) (ISSN: 0094-5765)
Referierte Publikation:Ja
Open Access:Nein
Gold Open Access:Nein
In SCOPUS:Nein
In ISI Web of Science:Nein
ISSN:0094-5765
Status:veröffentlicht
Stichwörter:CMOS-TDI, VNIR, backside thinned CMOS, very thin CMOS TDI detector, MTF, SNR, new detector architecture
Veranstaltungstitel:65th IAC 2014
Veranstaltungsort:Toronto, Kanada
Veranstaltungsart:internationale Konferenz
Veranstaltungsdatum:29. Sep. - 03. Okt. 2014
Veranstalter :IAF
HGF - Forschungsbereich:Luftfahrt, Raumfahrt und Verkehr
HGF - Programm:Raumfahrt
HGF - Programmthema:Erdbeobachtung
DLR - Schwerpunkt:Raumfahrt
DLR - Forschungsgebiet:R EO - Erdbeobachtung
DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):R - Vorhaben hochauflösende Fernerkundungsverfahren (alt), R - Vorhaben Optische Sensorik - Theorie, Kalibration, Verifikation (alt)
Standort: Berlin-Adlershof
Institute & Einrichtungen:Institut für Optische Sensorsysteme
Hinterlegt von: Eckardt, Andreas
Hinterlegt am:27 Okt 2014 06:59
Letzte Änderung:30 Jan 2015 06:22

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