Automated post-silicon debugging of failing speedpaths

Dehbashi, Mehdi und Fey, Görschwin (2012) Automated post-silicon debugging of failing speedpaths. Asian Test Symposium (ATS), 2012-11-19 - 2012-11-22, Niigata, Japan. doi: 10.1109/ATS.2012.42.

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Offizielle URL: http://dx.doi.org/10.1109/ATS.2012.42

elib-URL des Eintrags:

https://elib.dlr.de/84411/

Dokumentart:

Konferenzbeitrag (Vortrag)

Titel:

Automated post-silicon debugging of failing speedpaths

Autoren:

Autoren	Institution oder E-Mail-Adresse	Autoren-ORCID-iD	ORCID Put Code
Dehbashi, Mehdi	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Fey, Görschwin	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT

Datum:

2012

Referierte Publikation:

Open Access:

Nein

Gold Open Access:

Nein

In SCOPUS:

Nein

In ISI Web of Science:

Nein

DOI:

10.1109/ATS.2012.42

Seitenbereich:

Seiten 13-18

Status:

veröffentlicht

Stichwörter:

EDA, post-silicon diagnosis, timing, integrated circuits

Veranstaltungstitel:

Asian Test Symposium (ATS)

Veranstaltungsort:

Niigata, Japan

Veranstaltungsart:

internationale Konferenz

Veranstaltungsbeginn:

19 November 2012

Veranstaltungsende:

22 November 2012

HGF - Forschungsbereich:

Luftfahrt, Raumfahrt und Verkehr

HGF - Programm:

Raumfahrt

HGF - Programmthema:

keine Zuordnung

DLR - Schwerpunkt:

Raumfahrt

DLR - Forschungsgebiet:

R - keine Zuordnung

DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):

R - keine Zuordnung

Standort:

Bremen

Institute & Einrichtungen:

Institut für Raumfahrtsysteme > Avioniksysteme

Hinterlegt von:

Fey, Görschwin

Hinterlegt am:

26 Sep 2013 12:19

Letzte Änderung:

04 Jun 2024 14:46

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