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Functional analysis of circuits under timing variations

Dehbashi, Mehdi und Fey, Görschwin und Roy, Kaushik und Raghunathan, Anand (2012) Functional analysis of circuits under timing variations. IEEE European Test Symposium (ETS), 2012-05-28 - 2012-06-01, Annecy, France. doi: 10.1109/ETS.2012.6233031.

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Offizielle URL: http://dx.doi.org/10.1109/ETS.2012.6233031


elib-URL des Eintrags:https://elib.dlr.de/77030/
Dokumentart:Konferenzbeitrag (Poster)
Titel:Functional analysis of circuits under timing variations
Autoren:
AutorenInstitution oder E-Mail-AdresseAutoren-ORCID-iDORCID Put Code
Dehbashi, MehdiNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Fey, GörschwinNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Roy, KaushikNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Raghunathan, AnandNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Datum:2012
Referierte Publikation:Ja
Open Access:Nein
Gold Open Access:Nein
In SCOPUS:Nein
In ISI Web of Science:Nein
DOI:10.1109/ETS.2012.6233031
Seitenbereich:Seite 177
Status:veröffentlicht
Stichwörter:Timing variations, digital circuits, process variations, formal analysis
Veranstaltungstitel:IEEE European Test Symposium (ETS)
Veranstaltungsort:Annecy, France
Veranstaltungsart:Workshop
Veranstaltungsbeginn:28 Mai 2012
Veranstaltungsende:1 Juni 2012
HGF - Forschungsbereich:Luftfahrt, Raumfahrt und Verkehr
HGF - Programm:Raumfahrt
HGF - Programmthema:keine Zuordnung
DLR - Schwerpunkt:Raumfahrt
DLR - Forschungsgebiet:R - keine Zuordnung
DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):R - keine Zuordnung
Standort: Bremen
Institute & Einrichtungen:Institut für Raumfahrtsysteme > Avioniksysteme
Hinterlegt von: Fey, Görschwin
Hinterlegt am:13 Sep 2012 10:20
Letzte Änderung:05 Jun 2024 08:39

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