Characterisation of Wafers and Solar Cells using a novel High Power LED-based Photoluminescence (PL) Inspection System

Regehly, Martin und Penlington, Jaime und Zemke, Marco und Reulke, Ralf (2011) Characterisation of Wafers and Solar Cells using a novel High Power LED-based Photoluminescence (PL) Inspection System. 26th EU PVSEC, 2011-09-05 - 2011-09-09, Hamburg.

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Dokumentart:

Konferenzbeitrag (Poster)

Titel:

Characterisation of Wafers and Solar Cells using a novel High Power LED-based Photoluminescence (PL) Inspection System

Autoren:

Autoren	Institution oder E-Mail-Adresse	Autoren-ORCID-iD	ORCID Put Code
Regehly, Martin	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Penlington, Jaime	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Zemke, Marco	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Reulke, Ralf	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT

Datum:

2011

Open Access:

Nein

Gold Open Access:

Nein

In SCOPUS:

Nein

In ISI Web of Science:

Nein

Status:

veröffentlicht

Stichwörter:

solar cell characterisation, inspection system, LED, photoluminescence, back-illuminated CCD Camera

Veranstaltungstitel:

26th EU PVSEC

Veranstaltungsort:

Hamburg

Veranstaltungsart:

internationale Konferenz

Veranstaltungsbeginn:

5 September 2011

Veranstaltungsende:

9 September 2011

HGF - Forschungsbereich:

Energie

HGF - Programm:

keine Zuordnung

HGF - Programmthema:

E - keine Zuordnung

DLR - Schwerpunkt:

Energie

DLR - Forschungsgebiet:

E - keine Zuordnung

DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):

E - keine Zuordnung

Standort:

Berlin-Adlershof

Institute & Einrichtungen:

Optische Informationssysteme

Hinterlegt von:

Dombrowski, Ute

Hinterlegt am:

11 Jan 2012 12:23

Letzte Änderung:

24 Apr 2024 19:39

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