Determination of Ti3Al and TiAl lamellae thickness by means of STEM

Kelm, Klemens und Kabir, Rizviul und Chernova, Liudmila und Bartsch, Marion (2011) Determination of Ti3Al and TiAl lamellae thickness by means of STEM. In: MC 2011 Kiel Proceedings, 3, M5-P595. DGE – German Society for Electron Microscopy e.V. Germany. MC 2011, 2011-08-28 - 2011-09-02, Kiel, Deutschland. ISBN 978-3-00-033910-3.

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Kurzfassung

TiAl alloys are nowadays maturing into application in aerospace industries. Most of these alloys used exhibit a so called “duplex” or “fully lamellar” microstructure, containing colonies of lamellar grains, exhibit the so called Blackburn relationship. We measured the lamellae thickness by means of STEM. The procedure allows, in contrast to most other techniques semi-automatic determination of lamellae thicknes by simutaneous phase discrimination at high lateral resolution.

elib-URL des Eintrags:

https://elib.dlr.de/71777/

Dokumentart:

Konferenzbeitrag (Poster)

Titel:

Determination of Ti3Al and TiAl lamellae thickness by means of STEM

Autoren:

Autoren	Institution oder E-Mail-Adresse	Autoren-ORCID-iD	ORCID Put Code
Kelm, Klemens	Institute of Materials Research, German Aerospace Center, Linder Höhe, 51147 Cologne, Germany	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Kabir, Rizviul	Institute of Materials Research, German Aerospace Center, Linder Höhe, 51147 Cologne, Germany	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Chernova, Liudmila	Institute of Materials Research, German Aerospace Center, Linder Höhe, 51147 Cologne, Germany	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Bartsch, Marion	Institute of Materials Research, German Aerospace Center, Linder Höhe, 51147 Cologne, Germany	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT

Datum:

September 2011

Erschienen in:

MC 2011 Kiel Proceedings

Referierte Publikation:

Open Access:

Nein

Gold Open Access:

Nein

In SCOPUS:

Nein

In ISI Web of Science:

Nein

Band:

Seitenbereich:

M5-P595

Herausgeber:

Herausgeber	Institution und/oder E-Mail-Adresse der Herausgeber	Herausgeber-ORCID-iD	ORCID Put Code
Jäger, Wolfgang	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Kaysser, Wolfgang	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Benecke, Wolfgang	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Depmeier, Wulf	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Gorb, Stanislav	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Kienle, Lorenz	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Mulisch, Maria	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Häußler, Dietrich	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Lotnyk, Andreiy	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT

Verlag:

DGE – German Society for Electron Microscopy e.V. Germany

ISBN:

978-3-00-033910-3

Status:

veröffentlicht

Stichwörter:

TiAl, STEM, lamellae spacing

Veranstaltungstitel:

MC 2011

Veranstaltungsort:

Kiel, Deutschland

Veranstaltungsart:

internationale Konferenz

Veranstaltungsbeginn:

28 August 2011

Veranstaltungsende:

2 September 2011

Veranstalter :

DGE – German Society for Electron Microscopy e.V. Germany

HGF - Forschungsbereich:

Luftfahrt, Raumfahrt und Verkehr

HGF - Programm:

Luftfahrt

HGF - Programmthema:

Antriebe (alt)

DLR - Schwerpunkt:

Luftfahrt

DLR - Forschungsgebiet:

L ER - Antriebsforschung

DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):

L - Virtuelles Triebwerk und Validierungsmethoden (alt)

Standort:

Köln-Porz

Institute & Einrichtungen:

Institut für Werkstoff-Forschung > Mikroanalyse

Hinterlegt von:

Kelm, Dr. Klemens

Hinterlegt am:

21 Nov 2011 13:07

Letzte Änderung:

24 Apr 2024 19:37

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