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Processing of Bistatic TanDEM-X Data

Breit, Helko und Fritz, Thomas und Balss, Ulrich und Eineder, Michael und Yague-Martinez, Nestor und Rossi, Cristian (2010) Processing of Bistatic TanDEM-X Data. In: Proceedings of IEEE IGARSS 2010. IEEE International Geoscience and Remote Sensing Symposium 2010, 2010-07-25 - 2010-07-30, Honolulu, USA. doi: 10.1109/igarss.2010.5653602.

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Kurzfassung

On June 21st, 2010, the German radar satellite TanDEM-X was launched and successfully placed in an orbit approaching the TerraSAR-X satellite until both systems will fly in close formation and will establish the only available bi-static interferometer in space. The primary TanDEM-X mission goal is to generate a global Digital Elevation Model (DEM) with a relative point-to-point height accuracy of 2 meters for moderate terrain at 12 m posting. For that purpose interferometric SAR data will be acquired over a period of 3 years in parallel to the operational running TerraSAR-X mission. Systematic processing of SAR raw data to so-called Raw-DEMs is performed by one single processing system, the Integrated TanDEM Processor (ITP). The final global DEM is then calibrated and mosaicked by a second system, the Calibration and Mosaicking Processor (MCP). In this paper a short overview of the ITP’s processing functionalities is given, followed by a discussion of the bistatic processing challenges, namely the ultra stable oscillators’ (USO) differential drift estimation, the according timing and phase corrections and the bi-static SAR acquisition geometry.

elib-URL des Eintrags:https://elib.dlr.de/64935/
Dokumentart:Konferenzbeitrag (Vortrag)
Titel:Processing of Bistatic TanDEM-X Data
Autoren:
AutorenInstitution oder E-Mail-AdresseAutoren-ORCID-iDORCID Put Code
Breit, HelkoMFNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Fritz, ThomasMFNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Balss, UlrichMFNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Eineder, MichaelMFNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Yague-Martinez, NestorMFNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Rossi, CristianMFNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Datum:2010
Erschienen in:Proceedings of IEEE IGARSS 2010
Referierte Publikation:Nein
Open Access:Nein
Gold Open Access:Nein
In SCOPUS:Nein
In ISI Web of Science:Nein
DOI:10.1109/igarss.2010.5653602
Status:veröffentlicht
Stichwörter:TanDEM-X, Bistatic SAR, Digital Elevation Model (DEM), SAR Interferometry
Veranstaltungstitel:IEEE International Geoscience and Remote Sensing Symposium 2010
Veranstaltungsort:Honolulu, USA
Veranstaltungsart:internationale Konferenz
Veranstaltungsbeginn:25 Juli 2010
Veranstaltungsende:30 Juli 2010
Veranstalter :IEEE
HGF - Forschungsbereich:Verkehr und Weltraum (alt)
HGF - Programm:Weltraum (alt)
HGF - Programmthema:W EO - Erdbeobachtung
DLR - Schwerpunkt:Weltraum
DLR - Forschungsgebiet:W EO - Erdbeobachtung
DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):W - Projekt TanDEM-X (alt)
Standort: Oberpfaffenhofen
Institute & Einrichtungen:Institut für Methodik der Fernerkundung > SAR-Signalverarbeitung
Hinterlegt von: Breit, Helko
Hinterlegt am:11 Aug 2010 08:48
Letzte Änderung:05 Nov 2024 14:22

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