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ETCS – Teststrategien und Zulassung: Eine doppelte Herausforderung

Nowak , Sven and Rentsch, Ullrich (2009) ETCS – Teststrategien und Zulassung: Eine doppelte Herausforderung. Hanser Verlag. Safetronic 2009, 2009-11-03 - 2009-11-04, München, Deutschland.

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Abstract

ETCS stellt neben nationalen Anforderungen auch Sicherheitsanforderungen, neben Sicherheits- auch Interoperabilitätsanforderungen. Wie diese gemeinsam getestet und nachgewiesen werden können, wird in diesem Beitrag dargestellt.

Item URL in elib:https://elib.dlr.de/63331/
Document Type:Conference or Workshop Item (Speech)
Title:ETCS – Teststrategien und Zulassung: Eine doppelte Herausforderung
Authors:
AuthorsInstitution or Email of AuthorsAuthor's ORCID iDORCID Put Code
Nowak , SvenTüv SüdUNSPECIFIEDUNSPECIFIED
Rentsch, UllrichBombardier TransportationUNSPECIFIEDUNSPECIFIED
Date:3 November 2009
Refereed publication:No
Open Access:No
Gold Open Access:No
In SCOPUS:No
In ISI Web of Science:No
Publisher:Hanser Verlag
Series Name:Safetronic
Status:Published
Keywords:ETCS, Zulassung, Test
Event Title:Safetronic 2009
Event Location:München, Deutschland
Event Type:international Conference
Event Start Date:3 November 2009
Event End Date:4 November 2009
Organizer:Tüv Süd
HGF - Research field:Aeronautics, Space and Transport
HGF - Program:Transport
HGF - Program Themes:V SM - Sicherung der Mobilität (old)
DLR - Research area:Transport
DLR - Program:V SM - Sicherung der Mobilität
DLR - Research theme (Project):V - Technische und betriebliche Interoperbilität (old)
Location: Braunschweig
Institutes and Institutions:Institute of Transportation Systems > Railway System
Deposited By: Meyer zu Hörste, Dr. Michael
Deposited On:23 Feb 2010 10:54
Last Modified:24 Apr 2024 19:28

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