Ein Vergleich von zwei hochfrequenten Methoden für die Simulation der Doppelreflexion

Abstract

Der Beitrag befasst sich mit der Mehrfachreflexion von Mikrowellen an künstlichen Objekten, wie Flugzeigen, Autos oder Schiffen. Die Mehrfachreflexion kann die RCS-Werte von solchen Objekten beträchtlich beeinflussen. Der wohl wichtigste Mechanismus ist die Doppelreflexion, und diese ist der Schwerpunkt dieser Präsentation. Wir interessieren uns für den Hochfrequenzfall, d.h. dass die Wellenlänge wesentlich kürzer als die Abmessungen des Streuobjekts ist, und unter diesen Umständen wird typischerweise die Strahloptik zur Simulation der Mehrfachreflexionen eingesetzt. In diesem Vortrag wird gezeigt, dass unter bestimmten Voraussetzungen die Anwendung der Strahloptik zu erheblichen Fehlern führen kann, was der Einsatz der physikalisch-optischen Methode erforderlich macht.