Al-26 Diffusion Measurement in 2/1-Mullite by Means of Secondary Ion Mass Spectrometry

Fielitz, Peter und Borchardt, Günter und Schmücker, Martin und Schneider, Hartmut (2006) Al-26 Diffusion Measurement in 2/1-Mullite by Means of Secondary Ion Mass Spectrometry. Solid State Ionics, 177, Seiten 493-496. Elsevier.

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Dokumentart:

Zeitschriftenbeitrag

Titel:

Al-26 Diffusion Measurement in 2/1-Mullite by Means of Secondary Ion Mass Spectrometry

Autoren:

Autoren	Institution oder E-Mail-Adresse	Autoren-ORCID-iD	ORCID Put Code
Fielitz, Peter	TU Clausthal	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Borchardt, Günter	TU Clausthal	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Schmücker, Martin	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Schneider, Hartmut	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT

Datum:

2006

Erschienen in:

Solid State Ionics

Referierte Publikation:

Open Access:

Nein

Gold Open Access:

Nein

In SCOPUS:

Nein

In ISI Web of Science:

Band:

177

Seitenbereich:

Seiten 493-496

Verlag:

Elsevier

Status:

veröffentlicht

Stichwörter:

Aluminium-Diffusion, Mullit, SIMS

HGF - Forschungsbereich:

Verkehr und Weltraum (alt)

HGF - Programm:

Luftfahrt

HGF - Programmthema:

Antriebe (alt)

DLR - Schwerpunkt:

Luftfahrt

DLR - Forschungsgebiet:

L ER - Antriebsforschung

DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):

L - Brennkammertechnologien (alt)

Standort:

Köln-Porz

Institute & Einrichtungen:

Institut für Werkstoff-Forschung > Keramische Struktur- und Funktionswerkstoffe

Hinterlegt von:

Schmücker, Dr.rer.nat.hab. Martin

Hinterlegt am:

06 Dez 2006

Letzte Änderung:

27 Apr 2009 13:17

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