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Secondary Phase Instability in ZrO2-Doped Silicon Nitride During High-Temperature Testing

Braue, W. und Kleebe, H.J. und Goering, J. (1996) Secondary Phase Instability in ZrO2-Doped Silicon Nitride During High-Temperature Testing. In: 4th Euro Ceramics, 3, Seiten 25-30. Gruppo Editoriale Faenza Editrice, Italien.

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elib-URL des Eintrags:https://elib.dlr.de/43177/
Dokumentart:Konferenzbeitrag (Paper)
Zusätzliche Informationen: LIDO-Berichtsjahr=1996,
Titel:Secondary Phase Instability in ZrO2-Doped Silicon Nitride During High-Temperature Testing
Autoren:
AutorenInstitution oder E-Mail-AdresseAutoren-ORCID-iDORCID Put Code
Braue, W.NICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Kleebe, H.J.NICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Goering, J.NICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Datum:1996
Erschienen in:4th Euro Ceramics
Open Access:Nein
Gold Open Access:Nein
In SCOPUS:Nein
In ISI Web of Science:Nein
Band:3
Seitenbereich:Seiten 25-30
Verlag:Gruppo Editoriale Faenza Editrice, Italien
Status:veröffentlicht
HGF - Forschungsbereich:Verkehr und Weltraum (alt)
HGF - Programm:Luftfahrt
HGF - Programmthema:keine Zuordnung
DLR - Schwerpunkt:Luftfahrt
DLR - Forschungsgebiet:L TT - Triebwerkstechnologien
DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):NICHT SPEZIFIZIERT
Standort: Köln-Porz
Institute & Einrichtungen:Institut für Werkstoff-Forschung
Hinterlegt von: DLR-Beauftragter, elib
Hinterlegt am:02 Apr 2006
Letzte Änderung:27 Apr 2009 12:40

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