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Analytical Electron Microscopy of Reaction-Bonded SiC.

Das Chowdhury, K. und Carpenter, R.W. und Braue, W. (1992) Analytical Electron Microscopy of Reaction-Bonded SiC. In: 50th Annual Meeting of the Electron Microscopy Society of America, August 16-21, 1992, Boston/Ma., USA.

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elib-URL des Eintrags:https://elib.dlr.de/42681/
Dokumentart:Konferenzbeitrag (Paper)
Zusätzliche Informationen: LIDO-Berichtsjahr=1992,
Titel:Analytical Electron Microscopy of Reaction-Bonded SiC.
Autoren:
AutorenInstitution oder E-Mail-AdresseAutoren-ORCID-iDORCID Put Code
Das Chowdhury, K.NICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Carpenter, R.W.NICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Braue, W.NICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Datum:1992
Erschienen in:50th Annual Meeting of the Electron Microscopy Society of America, August 16-21, 1992, Boston/Ma., USA
Open Access:Nein
Gold Open Access:Nein
In SCOPUS:Nein
In ISI Web of Science:Nein
Status:veröffentlicht
HGF - Forschungsbereich:NICHT SPEZIFIZIERT
HGF - Programm:Luftfahrt
HGF - Programmthema:keine Zuordnung
DLR - Schwerpunkt:NICHT SPEZIFIZIERT
DLR - Forschungsgebiet:L TG - Querschnittstechnologien
DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):NICHT SPEZIFIZIERT
Standort: Köln-Porz
Institute & Einrichtungen:Institut für Werkstoff-Forschung
Hinterlegt von: DLR-Beauftragter, elib
Hinterlegt am:02 Apr 2006
Letzte Änderung:27 Apr 2009 12:24

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