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Simulation-Based Testing of Embedded Software in Space Applications

Montenegro, Sergio und Jähnichen, Stefan und Maibaum, Olaf (2006) Simulation-Based Testing of Embedded Software in Space Applications. In: Embedded Systems - Modelling, Technology and Applications, Seiten 73-82. Springer Netherland. Embedded Systems - Modelling, Technology and Applications, 2006-06-26 - 2006-06-27, Berlin. ISBN 978-1-4020-4932-3.

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Offizielle URL: https://www.springerlink.com/content/n252617t5212h123/resource-secured/?target=fulltext.pdf

Kurzfassung

This paper deals with the software-in-the-loop test approach being developed by the consortium project SiLEST (DLR, TU-Berlin, IAV, FhG FIRST, Webdynamix). We present a layer structure of the control loop that allows components of the environment simulation to be used for hardware-in-the-loop and software-in-the-loop testing of embedded systems software. The approach is specifically designed to test software behaviour in disturbed operating conditions, such as in a harsh environment, for example. In space applications, intensive radiation can corrupt computations and stored data. In addition, electronic devices such as sensors age much faster than on earth so that changed sensor deviations must be expected. Much the same is true of numerous other embedded systems, e.g. in automotive applications. Here, too, the electronic components are exposed to extreme conditions (temperature) and are subject to ageing processes.

elib-URL des Eintrags:https://elib.dlr.de/22470/
Dokumentart:Konferenzbeitrag (Paper)
Titel:Simulation-Based Testing of Embedded Software in Space Applications
Autoren:
AutorenInstitution oder E-Mail-AdresseAutoren-ORCID-iDORCID Put Code
Montenegro, SergioFraunhofer FIRSTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Jähnichen, StefanFraunhofer FIRSTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Maibaum, OlafNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Datum:17 Februar 2006
Erschienen in:Embedded Systems - Modelling, Technology and Applications
Open Access:Nein
Gold Open Access:Nein
In SCOPUS:Nein
In ISI Web of Science:Nein
Seitenbereich:Seiten 73-82
Herausgeber:
HerausgeberInstitution und/oder E-Mail-Adresse der HerausgeberHerausgeber-ORCID-iDORCID Put Code
Hommel, NICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Huanye, NICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Verlag:Springer Netherland
ISBN: 978-1-4020-4932-3
Status:veröffentlicht
Stichwörter:Embedded System, Software Test, Software in the Loop, Hardware in the Loop
Veranstaltungstitel:Embedded Systems - Modelling, Technology and Applications
Veranstaltungsort:Berlin
Veranstaltungsart:internationale Konferenz
Veranstaltungsbeginn:26 Juni 2006
Veranstaltungsende:27 Juni 2006
Veranstalter :Technische Universität Berlin, Institut für Technische Informatik und Mikroelektronik in Kooperation mit der Shanghai Jiao Tong University
HGF - Forschungsbereich:Verkehr und Weltraum (alt)
HGF - Programm:Weltraum (alt)
HGF - Programmthema:W - keine Zuordnung
DLR - Schwerpunkt:Weltraum
DLR - Forschungsgebiet:W - keine Zuordnung
DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):W - keine Zuordnung (alt)
Standort: Braunschweig
Institute & Einrichtungen:Institut für Simulations- und Softwaretechnik > Software-Qualitätssicherung und eingebettete Systeme
Hinterlegt von: Maibaum, Dr.rer.nat. Olaf
Hinterlegt am:19 Feb 2007
Letzte Änderung:24 Apr 2024 19:03

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