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Large-Spot COIL irradiation of Ge samples

Riede, W. und Grünewald, K. (2003) Large-Spot COIL irradiation of Ge samples. In: Laser-Induced Damage in Optical Materials: 2002 and 7th International Workshop on Laser Beam and Optics Characterization, 4932, Seiten 119-124. SPIE. Boulder Damage Symposium, Boulder CO, USA, 16.-18.9.2002. ISBN 0-8194-4727-7.

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Kurzfassung

The large-spot out-of-band irradiation of Ge wafers and subsequent evaluation is discussed in this paper. The wafers were irradiated with a high-power, cw COIL system, operating at a wavelength of 1.315 µm. Damaging fluence values on the order of 1 kJ/cm^2 were found for irradiation periods of several seconds. Thermal simulations were consistent with experimental findings. The damage morphology showed melt and microcrystallites. For sample evaluation, a compact modulation transfer function (MTF) test bench has been developed.

elib-URL des Eintrags:https://elib.dlr.de/2167/
Dokumentart:Konferenzbeitrag (Paper)
Zusätzliche Informationen: LIDO-Berichtsjahr=2002,
Titel:Large-Spot COIL irradiation of Ge samples
Autoren:
AutorenInstitution oder E-Mail-AdresseAutoren-ORCID-iDORCID Put Code
Riede, W.NICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Grünewald, K.NICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Datum:2003
Erschienen in:Laser-Induced Damage in Optical Materials: 2002 and 7th International Workshop on Laser Beam and Optics Characterization
Open Access:Nein
Gold Open Access:Nein
In SCOPUS:Nein
In ISI Web of Science:Nein
Band:4932
Seitenbereich:Seiten 119-124
Herausgeber:
HerausgeberInstitution und/oder E-Mail-Adresse der HerausgeberHerausgeber-ORCID-iDORCID Put Code
Exarhos, Gregory J.NICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Guenther, Arthur H.NICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Kaiser, NorbertNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Lewis, Keith L.NICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Soileau, M. J.NICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Stolz, Christopher J.NICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Giesen, AdolfNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Weber, HorstNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Verlag:SPIE
Name der Reihe:Proceedings of SPIE
ISBN:0-8194-4727-7
Status:veröffentlicht
Stichwörter:Keywords: Large-spot irradiation, Ge wafers, COIL, MTF test bench
Veranstaltungstitel:Boulder Damage Symposium, Boulder CO, USA, 16.-18.9.2002
Veranstalter :SPIE
HGF - Forschungsbereich:Energie
HGF - Programm:Luftfahrt
HGF - Programmthema:keine Zuordnung
DLR - Schwerpunkt:Energie
DLR - Forschungsgebiet:L - keine Zuordnung
DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):L - Laserforschung und -technologie (alt)
Standort: Stuttgart
Institute & Einrichtungen:Institut für Technische Physik
Hinterlegt von: Eckel, Dr.rer.nat. Hans-Albert
Hinterlegt am:16 Sep 2005
Letzte Änderung:06 Jan 2010 14:46

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