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Hidden Cost of Circuit Design with RFETs

Parvin, Sajjad und Jha, C. K. und Sill Torres, Frank und Drechlser, R. (2024) Hidden Cost of Circuit Design with RFETs. In: 2024 Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition, DATE 2024, Seiten 1-2. 2024 Design, Automation & Test in Europe Conference, 2024-03-25 - 2024-03-27, Valencia, Spain. ISBN 979-835034859-0. ISSN 1530-1591.

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Kurzfassung

Reconfigurable Field Effect Transistors (RFETs) can be programmed on the fly to behave either as NMOS or PMOS. Digital circuit designs using RFETs have been shown to benefit both in design and security metrics compared to traditional FETs. In this paper, we highlight the problem associated with the cascading of RFET-based logic cells that have their Source(S)/Drain(D) terminals not connected to the supply Voltage(VDD)/Ground(GND). While these circuits occupy a lesser area, there is a drastic increase in the delay of these logic cells when they are cascaded as a result of the S/D being driven by inputs. We then discuss two methods to mitigate this issue using a) buffer insertion for delay minimization, and b) logic cells that have their S/D terminals driven by VDD/GND.

elib-URL des Eintrags:https://elib.dlr.de/205117/
Dokumentart:Konferenzbeitrag (Vortrag)
Titel:Hidden Cost of Circuit Design with RFETs
Autoren:
AutorenInstitution oder E-Mail-AdresseAutoren-ORCID-iDORCID Put Code
Parvin, SajjadUniversität BremenNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Jha, C. K.NICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Sill Torres, FrankFrank.SillTorres (at) dlr.dehttps://orcid.org/0000-0002-4028-455XNICHT SPEZIFIZIERT
Drechlser, R.NICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Datum:2024
Erschienen in:2024 Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition, DATE 2024
Referierte Publikation:Ja
Open Access:Nein
Gold Open Access:Nein
In SCOPUS:Ja
In ISI Web of Science:Nein
Seitenbereich:Seiten 1-2
ISSN:1530-1591
ISBN:979-835034859-0
Status:veröffentlicht
Stichwörter:REFET
Veranstaltungstitel:2024 Design, Automation & Test in Europe Conference
Veranstaltungsort:Valencia, Spain
Veranstaltungsart:internationale Konferenz
Veranstaltungsbeginn:25 März 2024
Veranstaltungsende:27 März 2024
HGF - Forschungsbereich:keine Zuordnung
HGF - Programm:keine Zuordnung
HGF - Programmthema:keine Zuordnung
DLR - Schwerpunkt:keine Zuordnung
DLR - Forschungsgebiet:keine Zuordnung
DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):keine Zuordnung
Standort: Bremerhaven
Institute & Einrichtungen:Institut für den Schutz maritimer Infrastrukturen > Resilienz Maritimer Systeme
Hinterlegt von: Sill Torres, Dr. Frank
Hinterlegt am:20 Aug 2024 09:45
Letzte Änderung:20 Aug 2024 09:45

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