Measurement of oxygen grain boundary diffusion in mullite ceramics by SIMS depth profiling

Fielitz, P. und Borchardt, G. und Schmücker, M. und Schneider, H. und Willich, P. (2003) Measurement of oxygen grain boundary diffusion in mullite ceramics by SIMS depth profiling. Applied Surface Science, 203-204, Seiten 639-643.

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Dokumentart:

Zeitschriftenbeitrag

Zusätzliche Informationen:

LIDO-Berichtsjahr=2003,

Titel:

Measurement of oxygen grain boundary diffusion in mullite ceramics by SIMS depth profiling

Autoren:

Autoren	Institution oder E-Mail-Adresse	Autoren-ORCID-iD	ORCID Put Code
Fielitz, P.	Technische Universität Clausthal, Clausthal-Zellerfeld, Germany	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Borchardt, G.	Technische Universität Clausthal, Clausthal-Zellerfeld, Germany	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Schmücker, M.	Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt, Köln, Germany	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Schneider, H.	Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt, Köln, Germany	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Willich, P.	Fraunhofer Institut für Schicht- und Oberflächentechnik, Braunschweig, Germany	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT

Datum:

2003

Erschienen in:

Applied Surface Science

Referierte Publikation:

Open Access:

Nein

Gold Open Access:

Nein

In SCOPUS:

Nein

In ISI Web of Science:

Band:

203-204

Seitenbereich:

Seiten 639-643

Status:

veröffentlicht

HGF - Forschungsbereich:

Verkehr und Weltraum (alt)

HGF - Programm:

Luftfahrt

HGF - Programmthema:

Antriebe (alt)

DLR - Schwerpunkt:

Luftfahrt

DLR - Forschungsgebiet:

L ER - Antriebsforschung

DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):

NICHT SPEZIFIZIERT

Standort:

Köln-Porz

Institute & Einrichtungen:

Institut für Werkstoff-Forschung

Hinterlegt von:

DLR-Beauftragter, elib

Hinterlegt am:

16 Sep 2005

Letzte Änderung:

14 Jan 2010 17:52

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