Comparing Raman mapping and electron microscopy for characterizing compositional gradients in thermoelectric materials

Yasseri, Mohammad und Schüpfer, Dominique und Weinhold, Marcel und Chen, Limei und Kamila, Hasbuna und Müller, Eckhard und de Boor, Johannes und Klar, Peter J. (2020) Comparing Raman mapping and electron microscopy for characterizing compositional gradients in thermoelectric materials. Scripta Materialia. Elsevier. doi: 10.1016/j.scriptamat.2020.01.002. ISSN 1359-6462.

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Kurzfassung

We demonstrate that Raman mapping provides a cheap, fast, and non-invasive way of mapping compositional fluctuations occurring in state-of-the-art thermoelectric materials. Exemplarily, we discuss Raman results obtained on an Mg2Si–Mg2Sn diffusion couple and compare resulting compositional mappings with those obtained on the same sample using electron microscopy in conjunction with energy-dispersive X-ray emission and back-scattered electrons as probes. We obtained the same level of quantitative information by the three approaches. The lateral resolution achieved in the Raman mappings can be as good as 1.4 µm and typical recording times per data point are of the order of 50 s.

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https://elib.dlr.de/135087/

Dokumentart:

Zeitschriftenbeitrag

Titel:

Comparing Raman mapping and electron microscopy for characterizing compositional gradients in thermoelectric materials

Autoren:

Autoren	Institution oder E-Mail-Adresse	Autoren-ORCID-iD	ORCID Put Code
Yasseri, Mohammad	German aerospace center, Institute of materials research, Köln, Germany and Justus Liebig university Giessen, Institute of inorganic and analytical chemistry, 35392 Giessen, Germany	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Schüpfer, Dominique	Center for Materials Research (LaMa) and Institute of Experimental Physics I, Justus Liebig University Giessen, Heinrich-Buff-Ring 16, D-35392 Giessen, Germany	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Weinhold, Marcel	Center for Materials Research (LaMa) and Institute of Experimental Physics I, Justus Liebig University Giessen, Heinrich-Buff-Ring 16, D-35392 Giessen, Germany	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Chen, Limei	Center for Materials Research (LaMa) and Institute of Experimental Physics I, Justus Liebig University Giessen, Heinrich-Buff-Ring 16, D-35392 Giessen, Germany	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Kamila, Hasbuna	German aerospace center, Institute of materials research, Köln, Germany	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Müller, Eckhard	German Aerospace Center, Institute of Materials Research, Köln, Germany and Institute for Inorganic and Analytical Chemistry, Justus-Liebig-Universität Gießen, Heinrich-Buff-Ring 58, 35392 Gießen, Germany	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
de Boor, Johannes	German aerospace center, institute of materials research, köln, germany	https://orcid.org/0000-0002-1868-3167	NICHT SPEZIFIZIERT
Klar, Peter J.	Center for Materials Research (LaMa) and Institute of Experimental Physics I, Justus Liebig University Giessen, Heinrich-Buff-Ring 16, D-35392 Giessen, Germany	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT

Datum:

1 April 2020

Erschienen in:

Scripta Materialia

Referierte Publikation:

Open Access:

Gold Open Access:

Nein

In SCOPUS:

In ISI Web of Science:

DOI:

10.1016/j.scriptamat.2020.01.002

Verlag:

Elsevier

ISSN:

1359-6462

Status:

veröffentlicht

Stichwörter:

Raman spectroscopy; Scanning electron microscopy; Thermoelectric materials; Magnesium tin silicide

HGF - Forschungsbereich:

Luftfahrt, Raumfahrt und Verkehr

HGF - Programm:

Raumfahrt

HGF - Programmthema:

Technik für Raumfahrtsysteme

DLR - Schwerpunkt:

Raumfahrt

DLR - Forschungsgebiet:

R SY - Technik für Raumfahrtsysteme

DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):

R - Systemtechnologien (alt)

Standort:

Köln-Porz

Institute & Einrichtungen:

Institut für Werkstoff-Forschung > Thermoelektrische Materialien und Systeme

Hinterlegt von:

Yasseri, Mohammad

Hinterlegt am:

19 Okt 2020 09:45

Letzte Änderung:

23 Okt 2023 14:27

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