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Comparison of Three-Dimensional Scanning Devices

Deckers, Niklas und Reulke, R. (2019) Comparison of Three-Dimensional Scanning Devices. International Conference on Image and Vision Computing New Zealand 2019, Dunedin, New Zealand. doi: 10.1109/IVCNZ48456.2019.8961017.

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Kurzfassung

There are now a variety of methods and devices for deriving 3D information, e.g. binocular camera (stereo) systems and methods of the class "shape from X". In addition, there are modern recording technologies that simultaneously measure gray scale values and distance (range cameras, TOF cameras). Many of these methods are available through low-cost sensor systems that are simple and fast to use. We propose a simple experimental setup and a processing chain in order to evaluate the quality of the data recorded by these systems. In an experiment with students we demonstrate the usability of this approach and introduce results for selected low-cost sensors.

elib-URL des Eintrags:https://elib.dlr.de/133811/
Dokumentart:Konferenzbeitrag (Vortrag)
Titel:Comparison of Three-Dimensional Scanning Devices
Autoren:
AutorenInstitution oder E-Mail-AdresseAutoren-ORCID-iDORCID Put Code
Deckers, NiklasHU BerlinNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Reulke, R.Institut für Optische SensorsystemeNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Datum:2019
Referierte Publikation:Ja
Open Access:Nein
Gold Open Access:Nein
In SCOPUS:Nein
In ISI Web of Science:Nein
DOI:10.1109/IVCNZ48456.2019.8961017
Status:veröffentlicht
Stichwörter:3D scanning, stereo, time of flight, TOF, quality assessment
Veranstaltungstitel:International Conference on Image and Vision Computing New Zealand 2019
Veranstaltungsort:Dunedin, New Zealand
Veranstaltungsart:internationale Konferenz
HGF - Forschungsbereich:Luftfahrt, Raumfahrt und Verkehr
HGF - Programm:Raumfahrt
HGF - Programmthema:Erdbeobachtung
DLR - Schwerpunkt:Raumfahrt
DLR - Forschungsgebiet:R EO - Erdbeobachtung
DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):R - Optische Technologien und Anwendungen
Standort: Berlin-Adlershof
Institute & Einrichtungen:Institut für Optische Sensorsysteme
Hinterlegt von: Dombrowski, Ute
Hinterlegt am:23 Jan 2020 08:27
Letzte Änderung:23 Jan 2020 08:27

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