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Optoelectronics system for estimating measurement error of Image Pattern Correlation Technique

Poroykov, A. Yu. und Kirmse, Tania und Boden, Fritz und Lapitskiy, K.M. und Ivanova, Yu.V. und Lapitskaya, I.A. (2018) Optoelectronics system for estimating measurement error of Image Pattern Correlation Technique. In: European Test and Telemetry Conference -ettc2018- (7.2), 136 - 142. AMA. ETTC2018, 26.-28. Juni 2018, Nürnberg, Germany. doi: 10.5162/ettc2018/7.2. ISBN 978-3-9816876-7-5.

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655kB

Offizielle URL: https://www.ama-science.org/proceedings/details/2806

Kurzfassung

Photogrammetric methods for in-flight deformation measurements have undeniable advantages: e.g. contactless measurements, measuring the entire surface and the relative simplicity of the setup. During the European research projects Advanced In-Flight Measurement Techniques (AIM and AIM2) an implementation of the photogrammetric method – Image Pattern Correlation Technique (IPCT) has been proposed. It had been successfully applied in several flight test campaigns. To evaluate the measurement error of photogrammetric methods either opto-geometric evaluations or digital modeling of synthetic images are commonly used. Some works indicate only error estimation, but without the explanation of its origin. The paper presents an approach for estimating the measurement error for the IPCT. An experimental system is developed including an imitator of the surface deformation and an additional optical sensor for measuring the present surface profile. The error is determined as a difference between the results of the optical sensor and the IPCT. The system allows to simulate a deformation with an amplitude of ±25 mm on a surface area of 380×380 mm2 in increments of 0.5 mm horizontally and 0.001 mm vertically, with a measurement accuracy of 0.075 mm. The system will be outlined in the paper and measurement results are presented.

elib-URL des Eintrags:https://elib.dlr.de/122167/
Dokumentart:Konferenzbeitrag (Vortrag)
Zusätzliche Informationen:Paper DOI: 10.5162/ettc2018/7.2
Titel:Optoelectronics system for estimating measurement error of Image Pattern Correlation Technique
Autoren:
AutorenInstitution oder E-Mail-AdresseAutoren-ORCID-iDORCID Put Code
Poroykov, A. Yu.National Research University "Moscow Power Engineering InstituteNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Kirmse, Taniatania.kirmse (at) dlr.deNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Boden, Fritzfritz.boden (at) dlr.deNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Lapitskiy, K.M.National Research University "Moscow PoweNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Ivanova, Yu.V.National Research University "Moscow PoweNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Lapitskaya, I.A.National Research University "Moscow PoweNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Datum:26 Juni 2018
Erschienen in:European Test and Telemetry Conference -ettc2018-
Referierte Publikation:Ja
Open Access:Nein
Gold Open Access:Nein
In SCOPUS:Nein
In ISI Web of Science:Nein
DOI:10.5162/ettc2018/7.2
Seitenbereich:136 - 142
Verlag:AMA
Name der Reihe:European Test and Telemetry Conference -ettc2018-
ISBN:978-3-9816876-7-5
Status:veröffentlicht
Stichwörter:Deformationsmesstechnik, Photogrammetrie, IPCT
Veranstaltungstitel:ETTC2018
Veranstaltungsort:Nürnberg, Germany
Veranstaltungsart:internationale Konferenz
Veranstaltungsdatum:26.-28. Juni 2018
Institution:Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V.
Abteilung:AS-EXV
HGF - Forschungsbereich:Luftfahrt, Raumfahrt und Verkehr
HGF - Programm:Luftfahrt
HGF - Programmthema:Flugzeuge
DLR - Schwerpunkt:Luftfahrt
DLR - Forschungsgebiet:L AR - Aircraft Research
DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):L - Simulation und Validierung (alt)
Standort: Göttingen
Institute & Einrichtungen:Institut für Aerodynamik und Strömungstechnik > Experimentelle Verfahren, GO
Hinterlegt von: Micknaus, Ilka
Hinterlegt am:21 Nov 2018 11:13
Letzte Änderung:21 Nov 2018 11:13

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