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Total Ionizing Dose Effects on a Highly Integrated RF Transceiver for Small Satellite Radio Applications in Low Earth Orbit

Budroweit, Jan und Sznajder, Maciej (2018) Total Ionizing Dose Effects on a Highly Integrated RF Transceiver for Small Satellite Radio Applications in Low Earth Orbit. In: Proceedings of the International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, IPFA. IEEE. International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2018-07-16 - 2018-07-19, Singapore. doi: 10.1109/IPFA.2018.8452610. ISSN 1946-1550.

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Offizielle URL: https://ieeexplore.ieee.org/abstract/document/8452610/

Kurzfassung

Software-Defined Radios (SDR) are commonly used in state-of-the-art radio systems and are already well established in the space industry. A SDR usually describes the signal processing of a radio application in software and is often implemented into Field Programmable Gate Arrays (FPGA) or Digital Signal Processors (DSP). Most RF front-ends are strictly specified and realized for an executed application and are thus not re-configurable. With the release of new Radio Frequency Integrated Circuit (RFIC) devices, a significant portion of RF front end specifications have become programmable and alterable. This paper presents the use case and selected radiation test results of such RFIC technologies for small satellite radio applications, primary designed for low earth orbit (LEO) missions.

elib-URL des Eintrags:https://elib.dlr.de/121859/
Dokumentart:Konferenzbeitrag (Poster)
Titel:Total Ionizing Dose Effects on a Highly Integrated RF Transceiver for Small Satellite Radio Applications in Low Earth Orbit
Autoren:
AutorenInstitution oder E-Mail-AdresseAutoren-ORCID-iDORCID Put Code
Budroweit, JanJan.Budroweit (at) dlr.deNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Sznajder, MaciejMaciej.Sznajder (at) dlr.dehttps://orcid.org/0000-0002-9917-0581NICHT SPEZIFIZIERT
Datum:2018
Erschienen in:Proceedings of the International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, IPFA
Referierte Publikation:Ja
Open Access:Ja
Gold Open Access:Nein
In SCOPUS:Ja
In ISI Web of Science:Nein
DOI:10.1109/IPFA.2018.8452610
Verlag:IEEE
ISSN:1946-1550
Status:veröffentlicht
Stichwörter:TID Radiation Hardness
Veranstaltungstitel:International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA)
Veranstaltungsort:Singapore
Veranstaltungsart:internationale Konferenz
Veranstaltungsbeginn:16 Juli 2018
Veranstaltungsende:19 Juli 2018
HGF - Forschungsbereich:Luftfahrt, Raumfahrt und Verkehr
HGF - Programm:Raumfahrt
HGF - Programmthema:Technik für Raumfahrtsysteme
DLR - Schwerpunkt:Raumfahrt
DLR - Forschungsgebiet:R SY - Technik für Raumfahrtsysteme
DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):Proj Small Satellite Technology Experiment Platform (alt)
Standort: Bremen
Institute & Einrichtungen:Institut für Raumfahrtsysteme > Avioniksysteme
Institut für Raumfahrtsysteme > Mechanik und Thermalsysteme
Hinterlegt von: Sznajder, Dr.-Ing. Maciej
Hinterlegt am:27 Sep 2018 11:30
Letzte Änderung:24 Apr 2024 20:25

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