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Entwicklung und Validierung eines ultraschallbasierten Messverfahrens zur Schichtdickenbestimmung von Silikonbelägen auf CFK-Strukturen

Fronz, Pascal (2017) Entwicklung und Validierung eines ultraschallbasierten Messverfahrens zur Schichtdickenbestimmung von Silikonbelägen auf CFK-Strukturen. Bachelorarbeit, Ruhr-Universität Bochum.

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elib-URL des Eintrags:https://elib.dlr.de/115774/
Dokumentart:Hochschulschrift (Bachelorarbeit)
Titel:Entwicklung und Validierung eines ultraschallbasierten Messverfahrens zur Schichtdickenbestimmung von Silikonbelägen auf CFK-Strukturen
Autoren:
AutorenInstitution oder E-Mail-AdresseAutoren-ORCID-iDORCID Put Code
Fronz, PascalRuhr-Universität BochumNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Datum:Oktober 2017
Referierte Publikation:Ja
Open Access:Nein
Status:veröffentlicht
Stichwörter:CFK-Strukturen, Ultraschallprüfung
Institution:Ruhr-Universität Bochum
HGF - Forschungsbereich:Luftfahrt, Raumfahrt und Verkehr
HGF - Programm:Luftfahrt
HGF - Programmthema:Antriebssysteme
DLR - Schwerpunkt:Luftfahrt
DLR - Forschungsgebiet:L ER - Engine Research
DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):L - Virtuelles Triebwerk und Validierungsmethoden (alt)
Standort: Köln-Porz
Institute & Einrichtungen:Institut für Werkstoff-Forschung > Experimentelle und numerische Methoden
Hinterlegt von: Bartsch, Dr.-Ing. Marion
Hinterlegt am:22 Nov 2017 10:34
Letzte Änderung:22 Nov 2017 10:34

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