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Mutation based Feature Localization

Malburg, Jan und Encrenaz-Tiphene, Emmanuelle und Fey, Görschwin (2014) Mutation based Feature Localization. In: Proceedings - International Workshop on Microprocessor Test and Verification, Seiten 49-54. Microprocessor Test and Verification Workshop (MTV), 2014-12-15 - 2014-12-16, Austin, USA. doi: 10.1109/MTV.2014.14. ISBN 978 1 4673 6858 2. ISSN 1550-4093.

[img] PDF - Nur DLR-intern zugänglich
220kB

Offizielle URL: http://ieeexplore.ieee.org/document/7087233/

Kurzfassung

The complexity of modern chip designs is rapidly increasing. More and more blocks from old designs are reused and third party IP is licensed to fulfill strict time-to-market constraints. Often, poor documentation of such blocks makes improvements and extensions of the blocks a difficult time consuming task. In this paper we present a technique for automatically localizing the parts of the code which are relevant for a feature. With this a developer can better understand the design and, consequently, can adjust the design more efficiently. The presented approach uses mutants changing the code of the design at a certain location. The code changed by a mutant is considered to be related to a feature if the mutant is killed while the feature is used. The use cases are generated using an automatic approach. This approach is based on a description specifying how the different features are used. Compared to two previous approaches the manual work is significantly reduced and the localization is of similar or even better quality.

elib-URL des Eintrags:https://elib.dlr.de/106001/
Dokumentart:Konferenzbeitrag (Vortrag)
Titel:Mutation based Feature Localization
Autoren:
AutorenInstitution oder E-Mail-AdresseAutoren-ORCID-iDORCID Put Code
Malburg, JanNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Encrenaz-Tiphene, EmmanuelleEmmanuelle.Encrenaz (at) lip6.frNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Fey, GörschwinNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Datum:2014
Erschienen in:Proceedings - International Workshop on Microprocessor Test and Verification
Referierte Publikation:Ja
Open Access:Nein
Gold Open Access:Nein
In SCOPUS:Ja
In ISI Web of Science:Nein
DOI:10.1109/MTV.2014.14
Seitenbereich:Seiten 49-54
ISSN:1550-4093
ISBN:978 1 4673 6858 2
Status:veröffentlicht
Stichwörter:Electronic Design Automation, Design Understanding
Veranstaltungstitel:Microprocessor Test and Verification Workshop (MTV)
Veranstaltungsort:Austin, USA
Veranstaltungsart:internationale Konferenz
Veranstaltungsbeginn:15 Dezember 2014
Veranstaltungsende:16 Dezember 2014
Veranstalter :IEEE
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HGF - Programm:Raumfahrt
HGF - Programmthema:Technik für Raumfahrtsysteme
DLR - Schwerpunkt:Raumfahrt
DLR - Forschungsgebiet:R SY - Technik für Raumfahrtsysteme
DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):R - Small Sat Kleinsatelliten (alt), R - Systemtechnologien (alt), R - Core Avionics (alt)
Standort: Bremen
Institute & Einrichtungen:Institut für Raumfahrtsysteme > Avioniksysteme
Hinterlegt von: Mörz, Martina
Hinterlegt am:13 Sep 2016 12:34
Letzte Änderung:24 Apr 2024 20:11

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