elib
DLR-Header
DLR-Logo -> http://www.dlr.de
DLR Portal Home | Impressum | Datenschutz | Kontakt | English
Schriftgröße: [-] Text [+]

Analyzing an SET at Gate Level using a Conservative Approach

Thole, Niels und Fey, Görschwin und Garcia-Ortiz, Alberto (2015) Analyzing an SET at Gate Level using a Conservative Approach. Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen, 2015-03-01 - 2015-03-03, Bad Urach, Deutschland.

[img] PDF - Nur DLR-intern zugänglich
430kB

Kurzfassung

Due to the decreasing size of transistors, the probability of transient errors and the variability of the transistor’s characteristics in electrical circuits continues increasing. These issues demand for techniques to check the robustness of circuits and their behavior under transient errors and conservative variability approximations. We present a conservative algorithm to decide if a transient error leads to faulty output of a circuit. Our approach considers logical, timing, and electrical masking as well as variability in the gates. We model these aspects and transient errors at the gate-level ensuring conservativeness of our analysis. In experiments, we compare our algorithm to precise spice-simulations and show the runtime of our implementation on the ISCAS-85 benchmarks.

elib-URL des Eintrags:https://elib.dlr.de/105999/
Dokumentart:Konferenzbeitrag (Vortrag)
Titel:Analyzing an SET at Gate Level using a Conservative Approach
Autoren:
AutorenInstitution oder E-Mail-AdresseAutoren-ORCID-iDORCID Put Code
Thole, NielsNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Fey, GörschwinNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Garcia-Ortiz, AlbertoNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Datum:2015
Referierte Publikation:Nein
Open Access:Nein
Gold Open Access:Nein
In SCOPUS:Nein
In ISI Web of Science:Nein
Status:veröffentlicht
Stichwörter:reliability, robustness Analysis, digital circuits
Veranstaltungstitel:Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen
Veranstaltungsort:Bad Urach, Deutschland
Veranstaltungsart:Workshop
Veranstaltungsbeginn:1 März 2015
Veranstaltungsende:3 März 2015
Veranstalter :VDE/VDI-Gesellschaft Mikroelektronik, Mikrosystem- und Feinwerktechnik (GMM)
HGF - Forschungsbereich:Luftfahrt, Raumfahrt und Verkehr
HGF - Programm:Raumfahrt
HGF - Programmthema:Technik für Raumfahrtsysteme
DLR - Schwerpunkt:Raumfahrt
DLR - Forschungsgebiet:R SY - Technik für Raumfahrtsysteme
DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):R - Small Sat Kleinsatelliten (alt), R - Core Avionics (alt), R - Systemtechnologien (alt)
Standort: Bremen
Institute & Einrichtungen:Institut für Raumfahrtsysteme > Avioniksysteme
Hinterlegt von: Mörz, Martina
Hinterlegt am:13 Sep 2016 12:30
Letzte Änderung:24 Apr 2024 20:11

Nur für Mitarbeiter des Archivs: Kontrollseite des Eintrags

Blättern
Suchen
Hilfe & Kontakt
Informationen
electronic library verwendet EPrints 3.3.12
Gestaltung Webseite und Datenbank: Copyright © Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt (DLR). Alle Rechte vorbehalten.