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Diagnostic Tests and Diagnosis for Delay Faults using Path Segmentation

Flenker, Tino und Sülflow, André und Fey, Görschwin (2015) Diagnostic Tests and Diagnosis for Delay Faults using Path Segmentation. Asian Test Symposium (ATS), 2015-11-22 - 2015-11-25, Mumbai, Indien. doi: 10.1109/ATS.2015.32.

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elib-URL des Eintrags:https://elib.dlr.de/101505/
Dokumentart:Konferenzbeitrag (Vortrag)
Titel:Diagnostic Tests and Diagnosis for Delay Faults using Path Segmentation
Autoren:
AutorenInstitution oder E-Mail-AdresseAutoren-ORCID-iDORCID Put Code
Flenker, TinoNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Sülflow, AndréNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Fey, GörschwinNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Datum:2015
Referierte Publikation:Ja
Open Access:Nein
Gold Open Access:Nein
In SCOPUS:Nein
In ISI Web of Science:Nein
DOI:10.1109/ATS.2015.32
Seitenbereich:Seiten 145-150
Status:veröffentlicht
Stichwörter:Diagnosis, circuit, electronic design automation, path-delay
Veranstaltungstitel:Asian Test Symposium (ATS)
Veranstaltungsort:Mumbai, Indien
Veranstaltungsart:internationale Konferenz
Veranstaltungsbeginn:22 November 2015
Veranstaltungsende:25 November 2015
HGF - Forschungsbereich:Luftfahrt, Raumfahrt und Verkehr
HGF - Programm:Raumfahrt
HGF - Programmthema:Technik für Raumfahrtsysteme
DLR - Schwerpunkt:Raumfahrt
DLR - Forschungsgebiet:R SY - Technik für Raumfahrtsysteme
DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):R - Core Avionics (alt)
Standort: Bremen
Institute & Einrichtungen:Institut für Raumfahrtsysteme > Avioniksysteme
Hinterlegt von: Fey, Görschwin
Hinterlegt am:19 Jan 2016 12:01
Letzte Änderung:04 Jun 2024 14:47

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