Diagnostic Tests and Diagnosis for Delay Faults using Path Segmentation

Flenker, Tino und Sülflow, André und Fey, Görschwin (2015) Diagnostic Tests and Diagnosis for Delay Faults using Path Segmentation. Asian Test Symposium (ATS), 2015-11-22 - 2015-11-25, Mumbai, Indien. doi: 10.1109/ATS.2015.32.

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elib-URL des Eintrags:

https://elib.dlr.de/101505/

Dokumentart:

Konferenzbeitrag (Vortrag)

Titel:

Diagnostic Tests and Diagnosis for Delay Faults using Path Segmentation

Autoren:

Autoren	Institution oder E-Mail-Adresse	Autoren-ORCID-iD	ORCID Put Code
Flenker, Tino	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Sülflow, André	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Fey, Görschwin	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT

Datum:

2015

Referierte Publikation:

Open Access:

Nein

Gold Open Access:

Nein

In SCOPUS:

Nein

In ISI Web of Science:

Nein

DOI:

10.1109/ATS.2015.32

Seitenbereich:

Seiten 145-150

Status:

veröffentlicht

Stichwörter:

Diagnosis, circuit, electronic design automation, path-delay

Veranstaltungstitel:

Asian Test Symposium (ATS)

Veranstaltungsort:

Mumbai, Indien

Veranstaltungsart:

internationale Konferenz

Veranstaltungsbeginn:

22 November 2015

Veranstaltungsende:

25 November 2015

HGF - Forschungsbereich:

Luftfahrt, Raumfahrt und Verkehr

HGF - Programm:

Raumfahrt

HGF - Programmthema:

Technik für Raumfahrtsysteme

DLR - Schwerpunkt:

Raumfahrt

DLR - Forschungsgebiet:

R SY - Technik für Raumfahrtsysteme

DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):

R - Core Avionics (alt)

Standort:

Bremen

Institute & Einrichtungen:

Institut für Raumfahrtsysteme > Avioniksysteme

Hinterlegt von:

Fey, Görschwin

Hinterlegt am:

19 Jan 2016 12:01

Letzte Änderung:

04 Jun 2024 14:47

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