Conservatively Analyzing Transient Faults

Thole, Niels und Fey, Görschwin und Garcia-Ortiz, Alberto (2015) Conservatively Analyzing Transient Faults. IEEE Annual Symposium on VLSI (ISVLSI), 2015, Montpellier, France. doi: 10.1109/ISVLSI.2015.40.

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Offizielle URL: http://dx.doi.org/10.1109/ISVLSI.2015.40

elib-URL des Eintrags:

https://elib.dlr.de/101504/

Dokumentart:

Konferenzbeitrag (Vortrag)

Titel:

Conservatively Analyzing Transient Faults

Autoren:

Autoren	Institution oder E-Mail-Adresse	Autoren-ORCID-iD	ORCID Put Code
Thole, Niels	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Fey, Görschwin	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Garcia-Ortiz, Alberto	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT

Datum:

2015

Referierte Publikation:

Open Access:

Nein

Gold Open Access:

Nein

In SCOPUS:

Nein

In ISI Web of Science:

Nein

DOI:

10.1109/ISVLSI.2015.40

Seitenbereich:

Seiten 50-55

Status:

veröffentlicht

Stichwörter:

Transient Fault, Circuit, SEU, bit-flip, EDA, electronic design automation

Veranstaltungstitel:

IEEE Annual Symposium on VLSI (ISVLSI)

Veranstaltungsort:

Montpellier, France

Veranstaltungsart:

internationale Konferenz

Veranstaltungsdatum:

2015

HGF - Forschungsbereich:

Luftfahrt, Raumfahrt und Verkehr

HGF - Programm:

Raumfahrt

HGF - Programmthema:

Technik für Raumfahrtsysteme

DLR - Schwerpunkt:

Raumfahrt

DLR - Forschungsgebiet:

R SY - Technik für Raumfahrtsysteme

DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):

R - Core Avionics (alt)

Standort:

Bremen

Institute & Einrichtungen:

Institut für Raumfahrtsysteme > Avioniksysteme

Hinterlegt von:

Fey, Görschwin

Hinterlegt am:

19 Jan 2016 11:58

Letzte Änderung:

08 Aug 2025 11:20

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