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Mystery behind Similarity Measures MSE and SSIM

Palubinskas, Gintautas (2014) Mystery behind Similarity Measures MSE and SSIM. In: 2014 IEEE International Conference on Image Processing, ICIP 2014, Seiten 575-579. IEEE Xplore. ICIP 2014, 2014-10-27 - 2014-10-30, Paris, France. doi: 10.1109/ICIP.2014.7025115. ISBN 978-1-4799-5750-7.

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Kurzfassung

Similarity or distance measures play an important role in various pattern recognition applications such as classification, clustering, change detection, information retrieval, energy minimization and optimization problems. We shall analyze theoretically the two most popular quality measures MSE and SSIM used in image processing by showing their origin, similarities/differences and advantages/drawbacks. Both measures depend on the same parameters: sample means, standard deviations and correlation coefficient. It is shown that SSIM originates from two Dice measures and thus inherit their main drawback - dependence on the absolute mean and standard deviation values. Similarly, MSE depends on the absolute standard deviation values. A new similarity measure Composite quality index based on Means, Standard deviations and Correlation coefficient (CMSC) is proposed inheriting advantages of the both measures but at the same time avoiding their drawbacks.

elib-URL des Eintrags:https://elib.dlr.de/91439/
Dokumentart:Konferenzbeitrag (Poster)
Titel:Mystery behind Similarity Measures MSE and SSIM
Autoren:
AutorenInstitution oder E-Mail-AdresseAutoren-ORCID-iDORCID Put Code
Palubinskas, GintautasGintautas.Palubinskas (at) dlr.dehttps://orcid.org/0000-0001-7322-7917NICHT SPEZIFIZIERT
Datum:Oktober 2014
Erschienen in:2014 IEEE International Conference on Image Processing, ICIP 2014
Referierte Publikation:Ja
Open Access:Ja
Gold Open Access:Nein
In SCOPUS:Ja
In ISI Web of Science:Nein
DOI:10.1109/ICIP.2014.7025115
Seitenbereich:Seiten 575-579
Herausgeber:
HerausgeberInstitution und/oder E-Mail-Adresse der HerausgeberHerausgeber-ORCID-iDORCID Put Code
IEEE, IEEENICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Verlag:IEEE Xplore
ISBN:978-1-4799-5750-7
Status:veröffentlicht
Stichwörter:Similarity, distance, Euclidian, Dice, composite, correlation coefficient, quality index, image
Veranstaltungstitel:ICIP 2014
Veranstaltungsort:Paris, France
Veranstaltungsart:internationale Konferenz
Veranstaltungsbeginn:27 Oktober 2014
Veranstaltungsende:30 Oktober 2014
Veranstalter :IEEE
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HGF - Programm:Raumfahrt
HGF - Programmthema:Erdbeobachtung
DLR - Schwerpunkt:Raumfahrt
DLR - Forschungsgebiet:R EO - Erdbeobachtung
DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):R - Vorhaben hochauflösende Fernerkundungsverfahren (alt)
Standort: Oberpfaffenhofen
Institute & Einrichtungen:Institut für Methodik der Fernerkundung > Photogrammetrie und Bildanalyse
Hinterlegt von: Palubinskas, Dr.math. Gintautas
Hinterlegt am:06 Nov 2014 12:55
Letzte Änderung:24 Apr 2024 19:57

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