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Determination of Material Parameters and Influence of Measured Errors on the Reflection and Backscatter Properties of Realistic Material Arrangements

Preissner, J. Stein, V. (DLR Institut für Hochfrequenztechnik), (1998) Determination of Material Parameters and Influence of Measured Errors on the Reflection and Backscatter Properties of Realistic Material Arrangements. SPIE Proceedings, SPIE Proc., Vd. 3375, Seiten 244-255.

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Kurzfassung

The scattering matrix of a complex object is derived from the Physical Optics Method and the Method of Equivalent Currents. To demonstrate the influence of measurement errors the RCS of a coated metallic plate is evaluated for different material parameter sets which result from measurements with different experimental setups.

Dokumentart:Zeitschriftenbeitrag
Zusätzliche Informationen: LIDO-Berichtsjahr=1999,
Titel:Determination of Material Parameters and Influence of Measured Errors on the Reflection and Backscatter Properties of Realistic Material Arrangements
Autoren:
AutorenInstitution oder E-Mail-Adresse der Autoren
Preissner, J. Stein, V. (DLR Institut für Hochfrequenztechnik), NICHT SPEZIFIZIERT
Datum:1998
Erschienen in:SPIE Proceedings
Referierte Publikation:Nein
In SCOPUS:Nein
In ISI Web of Science:Nein
Band:SPIE Proc., Vd. 3375
Seitenbereich:Seiten 244-255
Status:veröffentlicht
Stichwörter:RCS prediction, nonmetallic structures, material parameters, reflection factors, experimental facilities, influence of errors
HGF - Forschungsbereich:Verkehr und Weltraum (alt)
HGF - Programm:Luftfahrt
HGF - Programmthema:keine Zuordnung
DLR - Schwerpunkt:Luftfahrt
DLR - Forschungsgebiet:L ST - Starrflüglertechnologien
DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):NICHT SPEZIFIZIERT
Standort: Oberpfaffenhofen
Institute & Einrichtungen:Institut für Hochfrequenztechnik
Hinterlegt von: Petra Deutinger
Hinterlegt am:16 Sep 2005
Letzte Änderung:06 Jan 2010 22:46

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