Functional analysis of circuits under timing variations

Dehbashi, Mehdi und Fey, Görschwin und Roy, Kaushik und Raghunathan, Anand (2012) Functional analysis of circuits under timing variations. IEEE European Test Symposium (ETS), Annecy, France. doi: 10.1109/ETS.2012.6233031.

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Offizielle URL: http://dx.doi.org/10.1109/ETS.2012.6233031

elib-URL des Eintrags:

https://elib.dlr.de/77030/

Dokumentart:

Konferenzbeitrag (Poster)

Titel:

Functional analysis of circuits under timing variations

Autoren:

Autoren	Institution oder E-Mail-Adresse	Autoren-ORCID-iD	ORCID Put Code
Dehbashi, Mehdi	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Fey, Görschwin	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Roy, Kaushik	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Raghunathan, Anand	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT

Datum:

2012

Referierte Publikation:

Open Access:

Nein

Gold Open Access:

Nein

In SCOPUS:

Nein

In ISI Web of Science:

Nein

DOI:

10.1109/ETS.2012.6233031

Seitenbereich:

Seite 177

Status:

veröffentlicht

Stichwörter:

Timing variations, digital circuits, process variations, formal analysis

Veranstaltungstitel:

IEEE European Test Symposium (ETS)

Veranstaltungsort:

Annecy, France

Veranstaltungsart:

Workshop

HGF - Forschungsbereich:

Luftfahrt, Raumfahrt und Verkehr

HGF - Programm:

Raumfahrt

HGF - Programmthema:

keine Zuordnung

DLR - Schwerpunkt:

Raumfahrt

DLR - Forschungsgebiet:

R - keine Zuordnung

DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):

R - keine Zuordnung

Standort:

Bremen

Institute & Einrichtungen:

Institut für Raumfahrtsysteme > Avioniksysteme

Hinterlegt von:

Fey, Görschwin

Hinterlegt am:

13 Sep 2012 10:20

Letzte Änderung:

10 Jul 2023 12:39

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