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Determination of Ti3Al and TiAl lamellae thickness by means of STEM

Kelm, Klemens und Kabir, Rizviul und Chernova, Liudmila und Bartsch, Marion (2011) Determination of Ti3Al and TiAl lamellae thickness by means of STEM. In: MC 2011 Kiel Proceedings, 3, . DGE – German Society for Electron Microscopy e.V. Germany. MC 2011, 28. August – 02. September 2011, Kiel, Deutschland. ISBN 978-3-00-033910-3.

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Kurzfassung

TiAl alloys are nowadays maturing into application in aerospace industries. Most of these alloys used exhibit a so called “duplex” or “fully lamellar” microstructure, containing colonies of lamellar grains, exhibit the so called Blackburn relationship. We measured the lamellae thickness by means of STEM. The procedure allows, in contrast to most other techniques semi-automatic determination of lamellae thicknes by simutaneous phase discrimination at high lateral resolution.

Dokumentart:Konferenzbeitrag (Poster)
Titel:Determination of Ti3Al and TiAl lamellae thickness by means of STEM
Autoren:
AutorenInstitution oder E-Mail-Adresse der Autoren
Kelm, KlemensInstitute of Materials Research, German Aerospace Center, Linder Höhe, 51147 Cologne, Germany
Kabir, RizviulInstitute of Materials Research, German Aerospace Center, Linder Höhe, 51147 Cologne, Germany
Chernova, LiudmilaInstitute of Materials Research, German Aerospace Center, Linder Höhe, 51147 Cologne, Germany
Bartsch, MarionInstitute of Materials Research, German Aerospace Center, Linder Höhe, 51147 Cologne, Germany
Datum:September 2011
Erschienen in:MC 2011 Kiel Proceedings
Referierte Publikation:Ja
In ISI Web of Science:Nein
Band:3
Seitenbereich:
Herausgeber:
HerausgeberInstitution und/oder E-Mail-Adresse der Herausgeber
Jäger, WolfgangNICHT SPEZIFIZIERT
Kaysser, WolfgangNICHT SPEZIFIZIERT
Benecke, WolfgangNICHT SPEZIFIZIERT
Depmeier, WulfNICHT SPEZIFIZIERT
Gorb, StanislavNICHT SPEZIFIZIERT
Kienle, LorenzNICHT SPEZIFIZIERT
Mulisch, MariaNICHT SPEZIFIZIERT
Häußler, DietrichNICHT SPEZIFIZIERT
Lotnyk, AndreiyNICHT SPEZIFIZIERT
Verlag:DGE – German Society for Electron Microscopy e.V. Germany
ISBN:978-3-00-033910-3
Status:veröffentlicht
Stichwörter:TiAl, STEM, lamellae spacing
Veranstaltungstitel:MC 2011
Veranstaltungsort:Kiel, Deutschland
Veranstaltungsart:internationale Konferenz
Veranstaltungsdatum:28. August – 02. September 2011
Veranstalter :DGE – German Society for Electron Microscopy e.V. Germany
HGF - Forschungsbereich:Luftfahrt, Raumfahrt und Verkehr
HGF - Programm:Luftfahrt
HGF - Programmthema:Antriebe
DLR - Schwerpunkt:Luftfahrt
DLR - Forschungsgebiet:L ER - Antriebsforschung
DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):L - Virtuelles Triebwerk und Validierungsmethoden
Standort: Köln-Porz
Institute & Einrichtungen:Institut für Werkstoff-Forschung > Mikroanalyse
Hinterlegt von: Klemens Kelm
Hinterlegt am:21 Nov 2011 13:07
Letzte Änderung:21 Nov 2011 13:07

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