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Grundlagen der Raster- und Transmissionselektronenmikroskopie

Kelm, Klemens (2009) Grundlagen der Raster- und Transmissionselektronenmikroskopie. Vortrag auf einem Buehler-Präparationsworkshop, Köln-Porz-Wahnheide.

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Abstract

Einführung in die Grundlagen der Raster- und Transmissionselektronenmikroskopie unter besonderer Berücksichtigung der Kontrastmechanismen und der Probenpräparation

Document Type:Conference or Workshop Item (Speech)
Title:Grundlagen der Raster- und Transmissionselektronenmikroskopie
Authors:
AuthorsInstitution or Email of Authors
Kelm, KlemensDLR
Date:25 November 2009
Status:Published
Keywords:REM, TEM
Event Title:Vortrag auf einem Buehler-Präparationsworkshop
Event Location:Köln-Porz-Wahnheide
Event Type:Workshop
Organizer:Buehler und DLR
HGF - Research field:Aeronautics, Space and Transport (old)
HGF - Program:Aeronautics
HGF - Program Themes:Propulsion Systems
DLR - Research area:Aeronautics
DLR - Program:L ER - Engine Research
DLR - Research theme (Project):L - Turbine Technologies
Location: Köln-Porz
Institutes and Institutions:Institute of Materials Research > Microanalysis
Deposited By: Klemens Kelm
Deposited On:07 Dec 2009 10:06
Last Modified:07 Dec 2009 10:06

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