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Grundlagen der Raster- und Transmissionselektronenmikroskopie

Kelm, Klemens (2009) Grundlagen der Raster- und Transmissionselektronenmikroskopie. Vortrag auf einem Buehler-Präparationsworkshop, Köln-Porz-Wahnheide.

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Kurzfassung

Einführung in die Grundlagen der Raster- und Transmissionselektronenmikroskopie unter besonderer Berücksichtigung der Kontrastmechanismen und der Probenpräparation

Dokumentart:Konferenzbeitrag (Vortrag)
Titel:Grundlagen der Raster- und Transmissionselektronenmikroskopie
Autoren:
AutorenInstitution oder E-Mail-Adresse der Autoren
Kelm, KlemensDLR
Datum:25 November 2009
Status:veröffentlicht
Stichwörter:REM, TEM
Veranstaltungstitel:Vortrag auf einem Buehler-Präparationsworkshop
Veranstaltungsort:Köln-Porz-Wahnheide
Veranstaltungsart:Workshop
Veranstalter :Buehler und DLR
HGF - Forschungsbereich:Verkehr und Weltraum (alt)
HGF - Programm:Luftfahrt
HGF - Programmthema:Antriebe
DLR - Schwerpunkt:Luftfahrt
DLR - Forschungsgebiet:L ER - Antriebsforschung
DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):L - Turbinentechnologien
Standort: Köln-Porz
Institute & Einrichtungen:Institut für Werkstoff-Forschung > Mikroanalyse
Hinterlegt von: Klemens Kelm
Hinterlegt am:07 Dez 2009 10:06
Letzte Änderung:07 Dez 2009 10:06

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