elib
DLR-Header
DLR-Logo -> http://www.dlr.de
DLR Portal Home | Impressum | Datenschutz | Kontakt | English
Schriftgröße: [-] Text [+]

Potential & Seebeck Microprobe – Imaging of electrical and thermoelectric material properties on the microscale

Ziolkowski, P. und Karpinski, G. und Platzek, D. und Stiewe , C. und Müller, E. (2009) Potential & Seebeck Microprobe – Imaging of electrical and thermoelectric material properties on the microscale. DPG Frühjahrstagung, 2009-03-22 - 2009-03-27, Dresden.

Dieses Archiv kann nicht den Volltext zur Verfügung stellen.

Kurzfassung

Recent developments turned the Potential & Seebeck Microprobe (PSM) into a powerful tool for electrical functional materials characterisation. A wide spectrum of applications has been demonstrated including thermoelectric cobalt antimonide and bismuth telluride films including nano-structured thick films. The principle involves a heated probe tip positioned at the surface of a sample coupled to a heat sink. The probe tip contains a thermocouple, the sample is connected to another thermo¬couple, together forming independent circuits containing the probe–sample contact. The sample is scanned by mechanically touching and again disconnecting the surface at each position. A rapidly sensing electronic contact detection prevents fragile thin films down to 1 µm and thinner from being damaged by the probe tip. The tip is heating up the sample in a micro-vicinity, forming a locally focused temperature gradient. By several measuring circuits, thermo-voltages and the temperature drop over the gradient region are recorded, yielding the local Seebeck coefficient. With an electrical current fed through, the potential profile over the sample is monitored. Micro-resolving images both of the Seebeck coefficient and the potential obtained in a single run provide information on functional effects of the distribution of chemical compo¬nents, phases, alloying elements, or dopants. The method is particularly helpful to study functionally segmented or graded materials. The facility is suitable for low resistivity materials which are difficult because of extremely low signals.

elib-URL des Eintrags:https://elib.dlr.de/61096/
Dokumentart:Konferenzbeitrag (Vortrag)
Titel:Potential & Seebeck Microprobe – Imaging of electrical and thermoelectric material properties on the microscale
Autoren:
AutorenInstitution oder E-Mail-AdresseAutoren-ORCID-iDORCID Put Code
Ziolkowski, P.German Aerospace Center, Köln, GermanyNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Karpinski, G.German Aerospace Center, Köln, GermanyNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Platzek, D.Physics Technology – Development and Consulting (PANCO), D-56218 Mühlheim-Kärlich, GermanyNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Stiewe , C.German Aerospace Center, Köln, GermanyNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Müller, E.German Aerospace Center, Köln, GermanyNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Datum:26 März 2009
Open Access:Nein
Gold Open Access:Nein
In SCOPUS:Nein
In ISI Web of Science:Nein
Status:akzeptierter Beitrag
Stichwörter:thermoelectric measurement - Seebeck coefficient - functionally graded or segmented material
Veranstaltungstitel:DPG Frühjahrstagung
Veranstaltungsort:Dresden
Veranstaltungsart:nationale Konferenz
Veranstaltungsbeginn:22 März 2009
Veranstaltungsende:27 März 2009
Veranstalter :Deutsche Physikalische Gesellschaft (DPG)
HGF - Forschungsbereich:Verkehr und Weltraum (alt)
HGF - Programm:Weltraum (alt)
HGF - Programmthema:W SY - Technik für Raumfahrtsysteme
DLR - Schwerpunkt:Weltraum
DLR - Forschungsgebiet:W SY - Technik für Raumfahrtsysteme
DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):W - Vorhaben SISTEC (alt)
Standort: Köln-Porz
Institute & Einrichtungen:Institut für Werkstoff-Forschung > Thermoelektrische Materialien und Systeme
Hinterlegt von: Zabrocki, Dr. Knud
Hinterlegt am:26 Nov 2009 10:07
Letzte Änderung:24 Apr 2024 19:26

Nur für Mitarbeiter des Archivs: Kontrollseite des Eintrags

Blättern
Suchen
Hilfe & Kontakt
Informationen
electronic library verwendet EPrints 3.3.12
Gestaltung Webseite und Datenbank: Copyright © Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt (DLR). Alle Rechte vorbehalten.