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Spatial Resolution of the Seebeck Coefficient Measured on Thermoelectric Thin Films

Platzek, Dieter und Karpinski, Gabriele und Stiewe, Christian und Ziolkowski, Pawel und Stordeur, Matthias und Engers, Bernd und Müller, Eckhard (2005) Spatial Resolution of the Seebeck Coefficient Measured on Thermoelectric Thin Films. In: Proc. 3rd European Conf. Thermoelectrics, Ecole des Mines Nancy, FR, 2005, Seiten 119-122. ECT 2005 - 3rd European Conf. Thermoelectrics, 2005-09-01 - 2005-09-02, Nancy (FR).

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Kurzfassung

The scanning Seebeck Micro Probe SMP is a tool for measuring the spatial resolution of the Seebeck coefficient. With this heated probe measurement it is possible to detect inhomogeneities of the electrical parameters and even diffusion of dopants in semiconducting or metallic material that cannot be detected with other methods due to the low concentration of the dopants. So far this method is well established for bulk material as already reported. In this paper we describe measurements performed on thin film thermoelectric samples. With this tool information about the thickness of thin films as well as of different layers can be obtained.

elib-URL des Eintrags:https://elib.dlr.de/21370/
Dokumentart:Konferenzbeitrag (Paper, Poster)
Titel:Spatial Resolution of the Seebeck Coefficient Measured on Thermoelectric Thin Films
Autoren:
AutorenInstitution oder E-Mail-AdresseAutoren-ORCID-iDORCID Put Code
Platzek, DieterNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Karpinski, GabrieleNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Stiewe, ChristianNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Ziolkowski, PawelNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Stordeur, MatthiasAngaris GmbH, Halle (Saale)NICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Engers, BerndAngaris GmbH, Halle (Saale)NICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Müller, EckhardNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Datum:2 September 2005
Erschienen in:Proc. 3rd European Conf. Thermoelectrics, Ecole des Mines Nancy, FR, 2005
Referierte Publikation:Nein
Open Access:Nein
Gold Open Access:Nein
In SCOPUS:Nein
In ISI Web of Science:Nein
Seitenbereich:Seiten 119-122
Herausgeber:
HerausgeberInstitution und/oder E-Mail-Adresse der HerausgeberHerausgeber-ORCID-iDORCID Put Code
Lenoir, BertrandNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Dauscher, AnneNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Status:veröffentlicht
Stichwörter:thermoelectric materials, Seebeck Micro Probe, SMP, Seebeck coefficient, spatial resolution, hot probe, inhomogeneity, electrical materials properties, semiconductors, metals, thermoelectric films
Veranstaltungstitel:ECT 2005 - 3rd European Conf. Thermoelectrics
Veranstaltungsort:Nancy (FR)
Veranstaltungsart:internationale Konferenz
Veranstaltungsbeginn:1 September 2005
Veranstaltungsende:2 September 2005
Veranstalter :INPL, Ecole des Mines Nancy, FR
HGF - Forschungsbereich:Luftfahrt, Raumfahrt und Verkehr
HGF - Programm:Luftfahrt
HGF - Programmthema:Antriebe (alt)
DLR - Schwerpunkt:Luftfahrt
DLR - Forschungsgebiet:L ER - Antriebsforschung
DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):L - Virtuelles Triebwerk und Validierungsmethoden (alt)
Standort: Köln-Porz
Institute & Einrichtungen:Institut für Werkstoff-Forschung > Keramische Struktur- und Funktionswerkstoffe
Hinterlegt von: Müller, Dr.phys. Wolf Eckhard
Hinterlegt am:23 Jan 2006
Letzte Änderung:24 Apr 2024 19:02

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