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Towards analysing Feature Locations through Testing Traces with BUT4Reuse

Martinez, Jabier und Malburg, Jan und Ziadi, Tewfik und Fey, Görschwin (2015) Towards analysing Feature Locations through Testing Traces with BUT4Reuse. Design Automation for Understanding Hardware Designs (DUHDe), 2015-03-13, Grenoble, Frankreich.

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elib-URL des Eintrags:https://elib.dlr.de/105998/
Dokumentart:Konferenzbeitrag (Vortrag)
Titel:Towards analysing Feature Locations through Testing Traces with BUT4Reuse
Autoren:
AutorenInstitution oder E-Mail-AdresseAutoren-ORCID-iDORCID Put Code
Martinez, Jabierjabier.martinez (at) uni.luNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Malburg, JanNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Ziadi, TewfikTewfik.Ziadi (at) lip6.frNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Fey, GörschwinNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Datum:2015
Referierte Publikation:Ja
Open Access:Nein
Gold Open Access:Nein
In SCOPUS:Nein
In ISI Web of Science:Nein
Status:veröffentlicht
Stichwörter:Electronic Design Automation, Design Understanding
Veranstaltungstitel:Design Automation for Understanding Hardware Designs (DUHDe)
Veranstaltungsort:Grenoble, Frankreich
Veranstaltungsart:internationale Konferenz
Veranstaltungsdatum:13 März 2015
Veranstalter :Design, Automation and Test in Europe (DATE)
HGF - Forschungsbereich:Luftfahrt, Raumfahrt und Verkehr
HGF - Programm:Raumfahrt
HGF - Programmthema:Technik für Raumfahrtsysteme
DLR - Schwerpunkt:Raumfahrt
DLR - Forschungsgebiet:R SY - Technik für Raumfahrtsysteme
DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):R - Small Sat Kleinsatelliten (alt), R - Systemtechnologien (alt), R - Core Avionics (alt)
Standort: Bremen
Institute & Einrichtungen:Institut für Raumfahrtsysteme > Avioniksysteme
Hinterlegt von: Mörz, Martina
Hinterlegt am:13 Sep 2016 12:28
Letzte Änderung:24 Apr 2024 20:11

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