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Joint Quality Measure for Accuracy Assessment of Pansharpening Methods

Palubinskas, Gintautas (2015) Joint Quality Measure for Accuracy Assessment of Pansharpening Methods. In: Proceedings of IEEE International Geoscience and Remote Sensing Symposium (IGARSS) 2015, Seiten 601-604. IEEE Xplore. IGARSS 2015, 2015-07-26 - 2015-07-31, Mailand, Italien. doi: 10.1109/igarss.2015.7325835.

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242kB

Offizielle URL: http://www.igarss2015.org/Papers/AcceptedPapers.asp

Kurzfassung

A new joint quality measure JQM, which is a sole measure is proposed for quality ranking of pansharpening methods. It is based on a newly proposed composite similarity measure CMSC, which consists of means, standard deviations and correlation coefficient and is translation invariant with respect to all parameters. JQM itself consists of a weighted sum of two terms. First term is measured between a low pass filtered pansharpened image and original multispectral image in a reduced resolution scale. The second one – between weighted intensity calculated from pansharpened image and original panchromatic image in a high resolution scale. Experimental results show advantages of a new measure JQM for quality assessment of pansharpening methods on the one hand and drawbacks of already known measure QNR on the other hand.

elib-URL des Eintrags:https://elib.dlr.de/96388/
Dokumentart:Konferenzbeitrag (Poster)
Titel:Joint Quality Measure for Accuracy Assessment of Pansharpening Methods
Autoren:
AutorenInstitution oder E-Mail-AdresseAutoren-ORCID-iDORCID Put Code
Palubinskas, GintautasGintautas.Palubinskas (at) dlr.dehttps://orcid.org/0000-0001-7322-7917NICHT SPEZIFIZIERT
Datum:2015
Erschienen in:Proceedings of IEEE International Geoscience and Remote Sensing Symposium (IGARSS) 2015
Referierte Publikation:Nein
Open Access:Ja
Gold Open Access:Nein
In SCOPUS:Nein
In ISI Web of Science:Nein
DOI:10.1109/igarss.2015.7325835
Seitenbereich:Seiten 601-604
Herausgeber:
HerausgeberInstitution und/oder E-Mail-Adresse der HerausgeberHerausgeber-ORCID-iDORCID Put Code
NICHT SPEZIFIZIERTIEEE Org.NICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Verlag:IEEE Xplore
Status:veröffentlicht
Stichwörter:Multi-resolution, multi-sensor, image fusion, pansharpening, quality assessment measure
Veranstaltungstitel:IGARSS 2015
Veranstaltungsort:Mailand, Italien
Veranstaltungsart:internationale Konferenz
Veranstaltungsbeginn:26 Juli 2015
Veranstaltungsende:31 Juli 2015
Veranstalter :IEEE
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HGF - Programm:Raumfahrt
HGF - Programmthema:Erdbeobachtung
DLR - Schwerpunkt:Raumfahrt
DLR - Forschungsgebiet:R EO - Erdbeobachtung
DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):R - Vorhaben hochauflösende Fernerkundungsverfahren (alt)
Standort: Oberpfaffenhofen
Institute & Einrichtungen:Institut für Methodik der Fernerkundung > Photogrammetrie und Bildanalyse
Hinterlegt von: Palubinskas, Dr.math. Gintautas
Hinterlegt am:26 Mai 2015 10:18
Letzte Änderung:24 Apr 2024 20:02

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