elib
DLR-Header
DLR-Logo -> http://www.dlr.de
DLR Portal Home | Impressum | Datenschutz | Kontakt | English
Schriftgröße: [-] Text [+]

Atomic Force Microscopy

Hiesgen, Renate und Friedrich, K. Andreas (2011) Atomic Force Microscopy. In: PEM Fuel Cell Diagnostic Tools CRC Press Taylor & Francis Group. Seiten 395-422. ISBN 978-1-4398-3919-5.

[img] PDF - Nur DLR-intern zugänglich
6MB

Kurzfassung

Although atomic force microscopy (AFM) is an ex situ technique, the measuring conditions can be chosen rather close to operating conditions in a PEM fuel cell. The flexibility in the analyzed areas allows an overview of the sample as well as a highly resolved measurement on the nanometer scale. The signals recorded by AFM are on the one hand based on force interaction of the AFM tip with the sample surface, thereby delivering, that is, local friction, adhesion, stiffness, and energy loss. On the other hand, electrical properties such as electronic conductivity, ionic conductivity as well as surface potential, electrostatic force or reactivity can be retrieved. The AFM works in ambient air and in a humid or liquid environment, including an electrochemical cell. Hydrophilic and hydrophobic surface properties are especially important for water management in a PEM fuel cell and degradation processes can be followed by a comparison of samples in a fresh state and after operation.

elib-URL des Eintrags:https://elib.dlr.de/71444/
Dokumentart:Beitrag im Sammelband
Titel:Atomic Force Microscopy
Autoren:
AutorenInstitution oder E-Mail-AdresseAutoren-ORCID-iDORCID Put Code
Hiesgen, Renaterenate.hiesgen (at) hs-esslingen.deNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Friedrich, K. Andreasandreas.friedrich (at) dlr.deNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Datum:September 2011
Erschienen in:PEM Fuel Cell Diagnostic Tools
Referierte Publikation:Nein
Open Access:Nein
Gold Open Access:Nein
In SCOPUS:Nein
In ISI Web of Science:Nein
Seitenbereich:Seiten 395-422
Herausgeber:
HerausgeberInstitution und/oder E-Mail-Adresse der HerausgeberHerausgeber-ORCID-iDORCID Put Code
wang, HaijiangHaijiang.Wang (at) nrc-cnrc.gc.caNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Yuan, Xia-ZiYuan, Xiao-Zi <Xiao-Zi.Yuan (at) nrc-cnrc.gc.ca>NICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Li, Huihui.li (at) nrc-cnrc.gc.caNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Verlag:CRC Press Taylor & Francis Group
ISBN:978-1-4398-3919-5
Status:veröffentlicht
Stichwörter:AFM, atomic force microscopy, fuel cell components
HGF - Forschungsbereich:Energie
HGF - Programm:Rationelle Energieumwandlung (alt)
HGF - Programmthema:E EV - Energieverfahrenstechnik (alt)
DLR - Schwerpunkt:Energie
DLR - Forschungsgebiet:E EV - Energieverfahrenstechnik
DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):E - Elektrochemische Prozesse (alt)
Standort: Stuttgart
Institute & Einrichtungen:Institut für Technische Thermodynamik > Elektrochemische Energietechnik
Hinterlegt von: Friedrich, Prof.Dr. Kaspar Andreas
Hinterlegt am:07 Nov 2011 16:12
Letzte Änderung:07 Nov 2011 16:12

Nur für Mitarbeiter des Archivs: Kontrollseite des Eintrags

Blättern
Suchen
Hilfe & Kontakt
Informationen
electronic library verwendet EPrints 3.3.12
Gestaltung Webseite und Datenbank: Copyright © Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt (DLR). Alle Rechte vorbehalten.