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Jedes Gramm zählt

Beeh, Elmar und Honsel, Gregor (2008) Jedes Gramm zählt. Technology Review (09.2008), Seiten 62-63. Heise Verlag GmbH & Co. KG. ISSN 1613-0138.

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Offizielle URL: http://www.technologyreview.de


elib-URL des Eintrags:https://elib.dlr.de/59187/
Dokumentart:Zeitschriftenbeitrag
Titel:Jedes Gramm zählt
Autoren:
AutorenInstitution oder E-Mail-AdresseAutoren-ORCID-iDORCID Put Code
Beeh, Elmarelmar.beeh (at) dlr.deNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Honsel, GregorNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Datum:September 2008
Erschienen in:Technology Review
Referierte Publikation:Ja
Open Access:Nein
Gold Open Access:Nein
In SCOPUS:Nein
In ISI Web of Science:Nein
Seitenbereich:Seiten 62-63
Verlag:Heise Verlag GmbH & Co. KG
Name der Reihe:Technology Review
ISSN:1613-0138
Status:veröffentlicht
Stichwörter:Leichtbau, Simulation, Lightweight Design, Simulation
HGF - Forschungsbereich:Verkehr und Weltraum (alt)
HGF - Programm:Verkehr
HGF - Programmthema:V UR - Schonung von Umwelt und Ressourcen (alt)
DLR - Schwerpunkt:Verkehr
DLR - Forschungsgebiet:V FT - Fahrzeugtechnik
DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):V - keine Zuordnung
Standort: Stuttgart
Institute & Einrichtungen:Institut für Fahrzeugkonzepte
Hinterlegt von: Schardl, Claudia
Hinterlegt am:30 Jun 2009 11:17
Letzte Änderung:27 Mai 2010 16:18

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