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Schilz, J. und Helios, R. und Ziegler, J. (1994) Influence of SiO2 Surface Passivation on Carrier Lifetimes in n-Type Hg07.Cd0.3Te. Journal of Materials Science: Materials in Electronics, 5, Seiten 35-37. Chapman & Hall, London.
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| elib-URL des Eintrags: | https://elib.dlr.de/42947/ | ||||||||||||||||
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| Dokumentart: | Zeitschriftenbeitrag | ||||||||||||||||
| Zusätzliche Informationen: | LIDO-Berichtsjahr=1994, | ||||||||||||||||
| Titel: | Influence of SiO2 Surface Passivation on Carrier Lifetimes in n-Type Hg07.Cd0.3Te. | ||||||||||||||||
| Autoren: |
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| Datum: | 1994 | ||||||||||||||||
| Erschienen in: | Journal of Materials Science: Materials in Electronics | ||||||||||||||||
| Referierte Publikation: | Ja | ||||||||||||||||
| Open Access: | Nein | ||||||||||||||||
| Gold Open Access: | Nein | ||||||||||||||||
| In SCOPUS: | Nein | ||||||||||||||||
| In ISI Web of Science: | Ja | ||||||||||||||||
| Band: | 5 | ||||||||||||||||
| Seitenbereich: | Seiten 35-37 | ||||||||||||||||
| Verlag: | Chapman & Hall, London | ||||||||||||||||
| Status: | veröffentlicht | ||||||||||||||||
| HGF - Forschungsbereich: | NICHT SPEZIFIZIERT | ||||||||||||||||
| HGF - Programm: | Erneuerbare Energie | ||||||||||||||||
| HGF - Programmthema: | E SF - Solarforschung (alt) | ||||||||||||||||
| DLR - Schwerpunkt: | NICHT SPEZIFIZIERT | ||||||||||||||||
| DLR - Forschungsgebiet: | E SF - Solarforschung | ||||||||||||||||
| DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben): | NICHT SPEZIFIZIERT | ||||||||||||||||
| Standort: | Köln-Porz | ||||||||||||||||
| Institute & Einrichtungen: | Institut für Werkstoff-Forschung | ||||||||||||||||
| Hinterlegt von: | DLR-Beauftragter, elib | ||||||||||||||||
| Hinterlegt am: | 02 Apr 2006 | ||||||||||||||||
| Letzte Änderung: | 27 Apr 2009 12:33 |
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