elib
DLR-Header
DLR-Logo -> http://www.dlr.de
DLR Portal Home | Impressum | Datenschutz | Barrierefreiheit | Kontakt | English
Schriftgröße: [-] Text [+]

DATA DRIVEN MODELLING OF PEEK MODULUS FOR ADVANCED PROCESS SIMULATION

Schäfer, Yannick und Gordnian, Kamyar und Chadwick, Ashley und Poursartip, Anoush (2025) DATA DRIVEN MODELLING OF PEEK MODULUS FOR ADVANCED PROCESS SIMULATION. In: SAMPE Europe Conference & Exhibition 2025. SAMPE Europe Conference 2025 Amsterdam, 2025-10-06 - 2025-10-07, Amsterdam, Niederlande. ISBN 978-90-833728-3-9.

[img] PDF
1MB

Offizielle URL: https://www.sampe-europe.org/about/library/

Kurzfassung

The development of large-scale thermoplastic composite parts using conventional trial and error methods is prohibitively expensive due to the complex interaction of part geometry, layup and temperature history with residual stresses and subsequent deformation. Process simulation can be the key to making thermoplastic materials accessible, but is ultimately limited by the accuracy of the underlying material models. In this work, data fusion of mechanical and thermal test results is employed to correlate the modulus of neat PEEK to the crystallinity. Based on this database, a modulus model is developed as a function of the state variables of temperature and crystallinity.

elib-URL des Eintrags:https://elib.dlr.de/217391/
Dokumentart:Konferenzbeitrag (Vortrag)
Titel:DATA DRIVEN MODELLING OF PEEK MODULUS FOR ADVANCED PROCESS SIMULATION
Autoren:
AutorenInstitution oder E-Mail-AdresseAutoren-ORCID-iDORCID Put Code
Schäfer, YannickYannick.Schaefer (at) dlr.dehttps://orcid.org/0009-0000-2645-7613194668852
Gordnian, KamyarConvergent Manufacturing TechnologiesNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Chadwick, Ashleyashley.chadwick (at) dlr.dehttps://orcid.org/0000-0001-7693-5687194668853
Poursartip, AnoushThe University of British ColumbiaNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Datum:Oktober 2025
Erschienen in:SAMPE Europe Conference & Exhibition 2025
Referierte Publikation:Ja
Open Access:Ja
Gold Open Access:Nein
In SCOPUS:Nein
In ISI Web of Science:Nein
ISBN:978-90-833728-3-9
Status:veröffentlicht
Stichwörter:PEEK, stiffness properties, process simulation, modelling
Veranstaltungstitel:SAMPE Europe Conference 2025 Amsterdam
Veranstaltungsort:Amsterdam, Niederlande
Veranstaltungsart:internationale Konferenz
Veranstaltungsbeginn:6 Oktober 2025
Veranstaltungsende:7 Oktober 2025
Veranstalter :SAMPE Europe
HGF - Forschungsbereich:Luftfahrt, Raumfahrt und Verkehr
HGF - Programm:Luftfahrt
HGF - Programmthema:Komponenten und Systeme
DLR - Schwerpunkt:Luftfahrt
DLR - Forschungsgebiet:L CS - Komponenten und Systeme
DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):L - Strukturwerkstoffe und Bauweisen
Standort: Stuttgart
Institute & Einrichtungen:Institut für Bauweisen und Strukturtechnologie > Bauteilgestaltung und Fertigungstechnologien
Hinterlegt von: Schäfer, Yannick
Hinterlegt am:20 Okt 2025 13:16
Letzte Änderung:20 Okt 2025 13:16

Nur für Mitarbeiter des Archivs: Kontrollseite des Eintrags

Blättern
Suchen
Hilfe & Kontakt
Informationen
OpenAIRE Validator logo electronic library verwendet EPrints 3.3.12
Gestaltung Webseite und Datenbank: Copyright © Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt (DLR). Alle Rechte vorbehalten.