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Test von adaptiven Softwaremechanismen zur Fehlerkompensation

Maibaum, Olaf und Rebeschieß, Sven (2005) Test von adaptiven Softwaremechanismen zur Fehlerkompensation. In: Simulation und Test in der Funktions- und Softwareentwicklung für die Automobilelektronik (45), Seiten 179-186. Expert Verlag. 2. Tagung Simulation und Test in der Funktions- und Softwareentwicklung für die Automobilelektronik, 2005-03-14 - 2005-03-15, Berlin. ISBN 3-8169-2491-3.

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Kurzfassung

Der Beitrag stellt den im Verbundvorhaben SiLEST (Software in the Loop for Embedded Software Test) verfolgten Ansatz des durch eine Umgebungssimulation unterstützten Softwaretests vor. Besonderes Ziel des Testansatzes ist es, hinsichtlich der Umgebungssimulation einen hohen Grad der Wiederverwendbarkeit von Simulationsmodulen und eine weitgehende Testautomatisierung zu gewährleisten. Von besonderem Interesse bei dem Testansatz ist dabei der Test des Softwareverhaltens unter gestörten Betriebsbedingungen, wie es beispielsweise in einem gealterten System oder bei beschädigter Sensorik bzw. Aktuatorik der Fall ist.

elib-URL des Eintrags:https://elib.dlr.de/19566/
Dokumentart:Konferenzbeitrag (Vortrag, Paper)
Titel:Test von adaptiven Softwaremechanismen zur Fehlerkompensation
Autoren:
AutorenInstitution oder E-Mail-AdresseAutoren-ORCID-iDORCID Put Code
Maibaum, OlafNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Rebeschieß, SvenIAV GmbHNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Datum:14 März 2005
Erschienen in:Simulation und Test in der Funktions- und Softwareentwicklung für die Automobilelektronik
Referierte Publikation:Ja
Open Access:Ja
Gold Open Access:Nein
In SCOPUS:Nein
In ISI Web of Science:Nein
Seitenbereich:Seiten 179-186
Herausgeber:
HerausgeberInstitution und/oder E-Mail-Adresse der HerausgeberHerausgeber-ORCID-iDORCID Put Code
Gühmann, ClemensNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Wolter, Thieß-MagnusNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Verlag:Expert Verlag
Name der Reihe:Haus der Technik Fachbuch
ISBN:3-8169-2491-3
Status:veröffentlicht
Stichwörter:Software in the Loop Test, Softwaretest, Eingebettete Systeme, Robustheit
Veranstaltungstitel:2. Tagung Simulation und Test in der Funktions- und Softwareentwicklung für die Automobilelektronik
Veranstaltungsort:Berlin
Veranstaltungsart:nationale Konferenz
Veranstaltungsbeginn:14 März 2005
Veranstaltungsende:15 März 2005
Veranstalter :Haus der Technik
HGF - Forschungsbereich:keine Zuordnung
HGF - Programm:keine Zuordnung
HGF - Programmthema:keine Zuordnung
DLR - Schwerpunkt:keine Zuordnung
DLR - Forschungsgebiet:keine Zuordnung
DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):keine Zuordnung
Standort: Braunschweig
Institute & Einrichtungen:Institut für Simulations- und Softwaretechnik > Software-Qualitätssicherung und eingebettete Systeme
Hinterlegt von: Maibaum, Dr.rer.nat. Olaf
Hinterlegt am:23 Nov 2005
Letzte Änderung:24 Apr 2024 19:01

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