The Scale4Edge RISC-V Ecosystem

Ecker, Wolfgang und Adelt, Peer und Müller, Wolfgang und Heckmann, Reinhold und Kristic, Milos und Herdt, Vladimir und Drechsler, Rolf und Angst, Gerhard und Wimmer, Ralf und Mauderer, Andreas und Stahl, Rafael und Emrich, Karsten und Müller-Gritschneder, Daniel und Becker, Bernd und Scholl, Philipp und Jentzsch, Eyck und Schlamelcher, Jan und Grüttner, Kim und Palomero Bernardo, Paul und Bringmann, Oliver und Damian, Mihaela und Oppermann, Julian und Koch, Andreas und Bormann, Jörg und Partzsch, Johannes und Mayr, Christian und Kunz, Wolfgang (2022) The Scale4Edge RISC-V Ecosystem. In: 2022 Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition, DATE 2022. Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2022-03-14 - 2022-03-23, Online. doi: 10.23919/DATE54114.2022.9774593. ISBN 978-3-9819263-6-1.

PDF - Nur DLR-intern zugänglich
1MB

Offizielle URL: https://ieeexplore.ieee.org/document/9774593

Kurzfassung

This paper introduces the project Scale4Edge. The project is focused on enabling an effective RISC-V ecosystem for optimization of edge applications. We describe the basic components of this ecosystem and introduce the envisioned demonstrators, which will be used in their evaluation.

elib-URL des Eintrags:

https://elib.dlr.de/188959/

Dokumentart:

Konferenzbeitrag (Vortrag)

Titel:

The Scale4Edge RISC-V Ecosystem

Autoren:

Autoren	Institution oder E-Mail-Adresse	Autoren-ORCID-iD	ORCID Put Code
Ecker, Wolfgang	Infineon Technologies AG	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Adelt, Peer	Paderborn University	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Müller, Wolfgang	Paderborn University	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Heckmann, Reinhold	AbsInt Angewandte Informatik GmbH	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Kristic, Milos	IHP-Leibniz Institut für innovative Mikroelektronik & University Potsdam	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Herdt, Vladimir	University of Bremen / DFKI GmbH	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Drechsler, Rolf	University of Bremen / DFKI GmbH	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Angst, Gerhard	Concept Engineering GmbH	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Wimmer, Ralf	Concept Engineering GmbH	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Mauderer, Andreas	Robert Bosch GmbH	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Stahl, Rafael	Technical University of Munich	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Emrich, Karsten	Technical University of Munich	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Müller-Gritschneder, Daniel	Technical University of Munich	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Becker, Bernd	Albert-Ludwigs-Universität Freiburg	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Scholl, Philipp	Albert-Ludwigs-Universität Freiburg	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Jentzsch, Eyck	MINRES Technologies GmbH	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Schlamelcher, Jan	jan.schlamelcher (at) dlr.de	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Grüttner, Kim	Kim.Gruettner (at) dlr.de	https://orcid.org/0000-0002-4988-3858	NICHT SPEZIFIZIERT
Palomero Bernardo, Paul	Universität Tübingen	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Bringmann, Oliver	Universität Tübingen	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Damian, Mihaela	Technical University of Darmstadt	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Oppermann, Julian	Technical University of Darmstadt	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Koch, Andreas	Technical University of Darmstadt	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Bormann, Jörg	Siemens EDA	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Partzsch, Johannes	Technische Universität Dresden	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Mayr, Christian	Technische Universität Dresden	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT
Kunz, Wolfgang	Technische Universität Kaiserslautern	NICHT SPEZIFIZIERT	NICHT SPEZIFIZIERT

Datum:

2022

Erschienen in:

2022 Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition, DATE 2022

Referierte Publikation:

Open Access:

Nein

Gold Open Access:

Nein

In SCOPUS:

In ISI Web of Science:

Nein

DOI:

10.23919/DATE54114.2022.9774593

ISBN:

978-3-9819263-6-1

Status:

veröffentlicht

Stichwörter:

RISC-V

Veranstaltungstitel:

Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE)

Veranstaltungsort:

Online

Veranstaltungsart:

internationale Konferenz

Veranstaltungsbeginn:

14 März 2022

Veranstaltungsende:

23 März 2022

HGF - Forschungsbereich:

Luftfahrt, Raumfahrt und Verkehr

HGF - Programm:

Verkehr

HGF - Programmthema:

Straßenverkehr

DLR - Schwerpunkt:

Verkehr

DLR - Forschungsgebiet:

V ST Straßenverkehr

DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):

V - V&V4NGC - Methoden, Prozesse und Werkzeugketten für die Validierung & Verifikation von NGC

Standort:

Oldenburg

Institute & Einrichtungen:

Institut für Systems Engineering für zukünftige Mobilität > System Evolution and Operation

Hinterlegt von:

Grüttner, Dr. Kim

Hinterlegt am:

18 Okt 2022 15:18

Letzte Änderung:

19 Jun 2024 15:24

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