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Algorithm assessment for layup defect segmentation from laser line scan sensor based image data

Meister, Sebastian und Wermes, Mahdieu A. M. und Stüve, Jan und Groves, Roger M. (2020) Algorithm assessment for layup defect segmentation from laser line scan sensor based image data. In: Sensors and Smart Structures Technologies for Civil, Mechanical, and Aerospace Systems 2020 (11379), Seiten 139-153. Sensors and Smart Structures Technologies for Civil, Mechanical, and Aerospace Systems 2020, 2020-04-27 - 2020-05-01, Anaheim, CA, USA. doi: 10.1117/12.2558434. ISBN 978-151063535-7. ISSN 0277-786X.

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Offizielle URL: https://doi.org/10.1117/12.2558434

Kurzfassung

The Automated Fiber Placement process is established in the aerospace industry for the production of composite components. This technique places several narrow material strips in parallel. Within current industrial Automated Fiber Placement processes the visual inspection takes typically up to 50 % of overall production time. Furthermore, inspection quality highly depends on the inspector. Therefore, automation of visual inspection offers a great improvement potential. To ensure reliable defect detection the segmentation of individual defects must be investigated. For this reason, this paper focusses on an assessment of defect segmentation algorithms. Therefore, 29 structural, statistical and spectral algorithms from related work were assessed, theoretically, using the 12 most relevant criteria as assessed from literature and process requirements. Then, seven most auspicious algorithms were analysed in detail. For reasons of determinism, Neural Network approaches are not part of this paper. Manually labelled prepreg defect images from a laser line scan sensor were used for tests. The test samples contain five defect types with 50 samples of each. Additionally, layups without defects were analysed. It was concluded that Adaptive Thresholding works best for global defect segmentation. The Cell Wise Standard Deviation Thresholding performs also quite well, but is very sensitive to grid size. Feasible algorithms perform reliable defect segmentation for layed up material.

elib-URL des Eintrags:https://elib.dlr.de/135181/
Dokumentart:Konferenzbeitrag (Vortrag, Anderer)
Titel:Algorithm assessment for layup defect segmentation from laser line scan sensor based image data
Autoren:
AutorenInstitution oder E-Mail-AdresseAutoren-ORCID-iDORCID Put Code
Meister, SebastianSebastian.Meister (at) dlr.dehttps://orcid.org/0000-0002-8193-1143NICHT SPEZIFIZIERT
Wermes, Mahdieu A. M.Mahdieu.Wermes (at) dlr.deNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Stüve, JanJan.Stueve (at) dlr.dehttps://orcid.org/0000-0003-1483-2476NICHT SPEZIFIZIERT
Groves, Roger M.R.M.Groves (at) tudelft.nlhttps://orcid.org/0000-0001-9169-9256NICHT SPEZIFIZIERT
Datum:April 2020
Erschienen in:Sensors and Smart Structures Technologies for Civil, Mechanical, and Aerospace Systems 2020
Referierte Publikation:Ja
Open Access:Nein
Gold Open Access:Nein
In SCOPUS:Ja
In ISI Web of Science:Ja
DOI:10.1117/12.2558434
Seitenbereich:Seiten 139-153
Herausgeber:
HerausgeberInstitution und/oder E-Mail-Adresse der HerausgeberHerausgeber-ORCID-iDORCID Put Code
Huang, HaiyingSPIENICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
ISSN:0277-786X
ISBN:978-151063535-7
Status:veröffentlicht
Stichwörter:Image Segmentation, Automated Fiber Placement, Inline Inspection, Adaptive Thresholding, Computer Vision, Composite Manufacturing, Laser Line Scan Sensor
Veranstaltungstitel:Sensors and Smart Structures Technologies for Civil, Mechanical, and Aerospace Systems 2020
Veranstaltungsort:Anaheim, CA, USA
Veranstaltungsart:internationale Konferenz
Veranstaltungsbeginn:27 April 2020
Veranstaltungsende:1 Mai 2020
Veranstalter :SPIE
HGF - Forschungsbereich:Luftfahrt, Raumfahrt und Verkehr
HGF - Programm:Luftfahrt
HGF - Programmthema:Flugzeuge
DLR - Schwerpunkt:Luftfahrt
DLR - Forschungsgebiet:L AR - Aircraft Research
DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):L - Strukturen und Werkstoffe (alt)
Standort: Stade
Institute & Einrichtungen:Institut für Faserverbundleichtbau und Adaptronik > Verbundprozesstechnologien
Hinterlegt von: Meister, Dr. Sebastian
Hinterlegt am:12 Okt 2020 13:45
Letzte Änderung:24 Apr 2024 20:37

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