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Differential inverse inelastic mean free path determination on the base of X-ray photoelectron emission spectra

Afanas'ev, Viktor P. und Gryazev, A. S. und Efremenko, Dmitry und Kaplya, Pavel S. und Lyapunov, N. V. (2016) Differential inverse inelastic mean free path determination on the base of X-ray photoelectron emission spectra. Surface Investigation X-Ray, Synchrotron and Neutron Techniques, 10 (5), Seiten 906-911. Maik Nauka Publishing / Springer SBM. doi: 10.1134/S1027451016050037. ISSN 1027-4510.

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2MB

Offizielle URL: http://dx.doi.org/10.1134/S1027451016050037

Kurzfassung

The photoelectron spectroscopy model is based on the solution of the radiative transfer equation with inner sources. The exact numerical solutions using BDF method are presented. PES, XAES and EELS spectra are described as series by the number of inelastic scatterings. Differential inverse inelastic mean free path for Be and W are obtained from the experimental data by the fitting procedure.

elib-URL des Eintrags:https://elib.dlr.de/107185/
Dokumentart:Zeitschriftenbeitrag
Titel:Differential inverse inelastic mean free path determination on the base of X-ray photoelectron emission spectra
Autoren:
AutorenInstitution oder E-Mail-AdresseAutoren-ORCID-iDORCID Put Code
Afanas'ev, Viktor P.National Research University "Moscow Power Engineering Institute", RussiaNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Gryazev, A. S.National Research University "Moscow Power Engineering Institute", RussiaNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Efremenko, Dmitrydmitry.efremenko (at) dlr.deNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Kaplya, Pavel S.National Research University "Moscow Power Engineering Institute", RussiaNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Lyapunov, N. V.National Research University "Moscow Power Engineering Institute", RussiaNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Datum:September 2016
Erschienen in:Surface Investigation X-Ray, Synchrotron and Neutron Techniques
Referierte Publikation:Ja
Open Access:Nein
Gold Open Access:Nein
In SCOPUS:Ja
In ISI Web of Science:Ja
Band:10
DOI:10.1134/S1027451016050037
Seitenbereich:Seiten 906-911
Herausgeber:
HerausgeberInstitution und/oder E-Mail-Adresse der HerausgeberHerausgeber-ORCID-iDORCID Put Code
Matveev, Viktor A.NICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERTNICHT SPEZIFIZIERT
Verlag:Maik Nauka Publishing / Springer SBM
ISSN:1027-4510
Status:veröffentlicht
Stichwörter:multiple scattering; X-ray; photoelectron spectroscopy; invariant imbedding
HGF - Forschungsbereich:Luftfahrt, Raumfahrt und Verkehr
HGF - Programm:Raumfahrt
HGF - Programmthema:Erdbeobachtung
DLR - Schwerpunkt:Raumfahrt
DLR - Forschungsgebiet:R EO - Erdbeobachtung
DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):R - Atmosphären- und Klimaforschung
Standort: Oberpfaffenhofen
Institute & Einrichtungen:Institut für Methodik der Fernerkundung > Atmosphärenprozessoren
Hinterlegt von: Efremenko, Dr Dmitry
Hinterlegt am:28 Okt 2016 11:15
Letzte Änderung:14 Dez 2019 04:22

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