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The Application of Remote Sensing Techniques for Surveys on Forest Damage.

Kirchhof, Werner (1990) The Application of Remote Sensing Techniques for Surveys on Forest Damage. In: Proceedings Intl. and Interdisciplinary Symposium, 12-16 March 1990, Colombo: Ecology and Landscape Management in SrilankaA German Experience J. Margraf, Weikersheim.

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Kurzfassung

For surveys of forest damage of fir, pine, beech and oak stands ten test areas were selected, with a variety of influencing environmental parameters like topography, stand of trees, species. Eight institutions are cooperating, using aerial CIR photos and multispectral scanner data from airborne and satellite platforms. Different image correction and processing methods are applied, including spectral sinature analysis and additional spectroradiometer measurements on the ground. Results obtained indicate that by the use of supervised classification, based on spectral differencesof healthy and damaged classes, good and reliable results can be obtained for larger homogeneous stands using airborne data.

Dokumentart:Beitrag im Sammelband
Zusätzliche Informationen: event_title=International and Interdisciplinary Symposium, 12-16 March 1990, Colombo, LIDO-Berichtsjahr=1990, pages=39,
Titel:The Application of Remote Sensing Techniques for Surveys on Forest Damage.
Autoren:
AutorenInstitution oder E-Mail-Adresse der Autoren
Kirchhof, WernerNICHT SPEZIFIZIERT
Datum:1990
Erschienen in:Proceedings Intl. and Interdisciplinary Symposium, 12-16 March 1990, Colombo: Ecology and Landscape Management in SrilankaA German Experience
Referierte Publikation:Ja
In ISI Web of Science:Nein
Verlag:J. Margraf, Weikersheim
Status:veröffentlicht
Stichwörter:Forest Damage, Multispectral Data, Classification, Survey, Spectral Reflectance Measurements, Remote Sensing
HGF - Forschungsbereich:NICHT SPEZIFIZIERT
HGF - Programm:keine Zuordnung
HGF - Programmthema:keine Zuordnung
DLR - Schwerpunkt:NICHT SPEZIFIZIERT
DLR - Forschungsgebiet:keine Zuordnung
DLR - Teilgebiet (Projekt, Vorhaben):NICHT SPEZIFIZIERT
Standort: Oberpfaffenhofen
Institute & Einrichtungen:Institut für Optoelektronik
Hinterlegt von: elib DLR-Beauftragter
Hinterlegt am:26 Apr 2006
Letzte Änderung:27 Apr 2009 09:32

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